S47      Adaptateur de carte à pointes

S47 : Adaptateur de carte à pointes
S47 : Adaptateur de carte à pointes
S47 : Adaptateur de carte à pointes
S47 : Adaptateur de carte à pointes
S47 : Adaptateur de carte à pointes
S47 : Adaptateur de carte à pointes

Référence

S47

Désignation

Adaptateur de carte à pointes

Description

Ce support mécanique permet de fixer une carte à pointes rectangulaire de 4,5" (114 mm) de large sur une station de tests sous pointes.

- Permet d'alimenter le dispositif par plusieurs pointes tout en effectuant des poses de pointes ciblées sur le milieu de la puce ou sur des plots internes de tests.
- Ce support existe en deux modèles dont l'un avec réglage de rotation.

Références courantes

  • S4710 : Pour carte à pointes largeur 4,5"
  • S4720 : Pour carte à pointes largeur 4,5" - Ajustable en rotation

Produits associés

Carte à pointes

ProbecardCarte à pointes

Les cartes à pointes permettent de répondre à toutes les applications de test de production et notamment là où les contraintes techniques sont importantes : grande densité de pointes, faible espacement (pitch), test parallèle (multi-DUT), contrainte technologique (low-k, plot sur cicuit actif...).

- Service de design pcb disponible permettant de réaliser des cartes spécifiques
- Tous services de fabrication, diagnostic, réparation, alignement...
- Adaptable pour tests sur plots ou sur bumps
Station de test sous pointes manuelle 8

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).


- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
Station de test sous pointes manuelle haute précision 8

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à +300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
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