MOTICAM4000      Caméra numérique haute définition

Description

Caméra numérique haute définition d'inspection et d'aide à la pose de pointes sur wafer.

Cette caméra utilise un montage C pour être montée sur la plupart des microscopes du marché.
Sa haute définition lui offre la possibilité de poser les pointes sur des plots très petits.
Elle possède plusieurs sorties pour permettre une grande variété d'utilisations (HDMI 4K, USB...).
Une carte SD peut-être connectée pour réaliser des prises d'images rapides.

Spécifications techniques

Type de capteur

CMOS 1/1.8"

Résolution

8 Mpx (3840x2160)

Connexion

USB 2.0 - HDMI

Logiciel

Motic Images Plus, aquisition et mesure

Type de montage

Montage C

Alimentation

12V ext V

Produits associés

Microscope à tourelle

PSM1000Microscope à tourelle

Microscope à tourelle d'inspection à forts grossissements.
Il est nécessaire pour le positionnement de pointes de tests sur des petites surfaces de contact.

- Peut être utilisé seul (sur stand) ou monté sur une station de test sous pointes
- Gamme d'accessoires et d'objectifs disponibles (NIR, NUV, polariseur, analyseur...)
- La tête trinoculaire permet l'utilisation de caméras numériques
- Application spectroscopique possible
Microscope mono-objectif

AZOOMµMicroscope mono-objectif

Ce microscope permet le grossissement d'un microscope à tourelle sans l'encombrement des objectifs non utilisés.
Sa tête trinoculaire permet d'utiliser une caméra, et/ou un laser.


- L'illumination est réalisée par un éclairage traversant à LED
- Montage C pour caméra
- Grande distance de travail
Station de test sous pointes semi-automatique 8"

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
Station de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Microscope stéréozoom

SMZ171Microscope stéréozoom

Conçu pour les applications de précision en électronique, ce microscope trinoculaire offre une excellente qualité d'observation pour les opérations de pose, positionnement et manipulation de micro-pointes sur une station de tests sous pointes.

Son système optique permet d'obtenir une image claire et détaillée des composants et zones de travail, facilitant les interventions nécessitant une grande précision. La conception trinoculaire permet également de connecter une caméra afin de visualiser, enregistrer ou partager les opérations en temps réel.

Grâce à son observation stéréoscopique et à sa profondeur de champ adaptée aux travaux de précision, le microscope facilite le positionnement précis des micro-pointes tout en conservant une bonne perception du relief et des distances.

Il est particulièrement adapté aux opérations de micro-électronique, assemblage, contrôle, test et prototypage, lorsque la précision du geste et la visibilité de la zone d'intervention sont essentielles.

- Tête trinoculaire pour observation et connexion d'une caméra
- Observation stéréoscopique pour un excellent contrôle de la zone de travail
- Adapté à la pose et au positionnement de micro-pointe
- Excellente visibilité des composants et connexions miniatures
- Grande distance de travail (WD 110mm)
- Variété de stands et de supports

Robuste, polyvalent et conçu pour les environnements techniques, ce microscope constitue un outil adapté aux professionnels de l'électronique et de la micro-électronique recherchant une observation précise lors d'opérations délicates.
Il permet de travailler avec davantage de contrôle et de précision sur les composants miniatures, tout en offrant la possibilité de documenter les opérations grâce à sa sortie trinoculaire pour caméra.
Microscope mono-objectif

MS12ZMicroscope mono-objectif

Ce microscope est composé d'un mono-objectif avec un zoom interne inclus.
Il permet un grande plage de grossissement sans l'inconvénient de la tourelle pour des applications de tests sous pointes.


- Compact et léger
- Grande distance de travail (idéal pour applications hautes fréquences)
- Montage C pour caméra
- Grande luminosité (éclairage par fibre optique LED)
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