TEST SOUS POINTESAccessoires de testsMicropositionneurs

S725P Micropositionneur S725 avec tête pivotante

Référence

S725P

Désignation

Micropositionneur S725 avec tête pivotante

APPLICATIONS

Tests à très faible courant

Mesures IV/CV & Analyse de défaillance

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Description

Ce micropositionneur permet de positionner des pointe à des plots et lignes de dimension > 20 µm.
La tête pivotante est conçue pour une plongée rapide en Z avant positionnement fin.

Références courantes

S725PLM : Base magnétique, placement à droite du plateau
S725PRM : Base magnétique, placement à gauche du plateau
S725PLV : Base à vide, placement à droite du plateau
S725PRV : Base à vide, placement à gauche du plateau

DOCUMENTS

S725 brochure (pdf)

Spécifications techniques

Précision

5 µm

Déplacement max X

19 mm

Déplacement max Y

15 mm

Déplacement max Z

15 mm

Résolution

80 TPI

Molette

A droite ou à gauche

Style de base

Magnétique ou à vide

Produits associés

UxTBPorte-pointe Coaxial isolation téflon

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation téflon.

PTG20Pointe de test en tungstène

Pointe de test droite avec finesse (tip radius) de 0,5 à 100 µm, le corps rigide en tungstène peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Matériau tungstène, longueur totale 38 mm
- Usage pour tests sous pointes standard sur plots et/ou sur motifs
- Le corps peut être plaquée nickel pour soudure aisée, ajouter suffixe "N" au P/N

UPPorte-pointe standard fixation pointe par ressort

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par ressort pour un montage rapide et sur.

H150Station de test sous pointes manuelle 4"

Station de tests sous pointes facile à utiliser pour wafers jusqu'à 100mm.

- Déplacement du chuck XY
- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs ou carte à pointes
- Support microscope fixe

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

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