Appareil de mesure d7effet Hall

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ProbeSenseSonde de mesure de température

ProbeSense™ est un appareil en instance de brevet pour l'étalonnage de la température entre -65°C et 300°C.

La température a toujours été un paramètre important lors du test des capteurs, mais la tendance est désormais de passer de simples tests fonctionnels à un étalonnage à certaines températures. Pour répondre aux exigences des appareils tels que les capteurs de température, de gaz, d'humidité et de pression, ERS a développé une solution unique qui permet des mesures de température très précises sur l'ensemble du chuck.

L'appareil s'appelle ProbeSense™ : un outil d'étalonnage de température unique, composé d'un seul capteur. Il est monté à la place de la carte à pointe de la station de tests sous pointes et est connecté à un instrument d'étalonnage, où une précision inférieure à 30 mK peut être atteinte. Un processus d'étalonnage entièrement automatisé est également possible avec une intégration du ProbeSense™ dans un logiciel.

ProbeSense™ est livré dans une valise robuste et faite sur mesure et contient les composants suivants :

• ProbeSense™ avec un capteur calibré jusqu'à 10 mK
• Support d'adaptation pour divers modèles de stations de tests
• Appareil de mesure de température câble
• Batterie de rechange pour l'appareil de mesure
• Clé USB avec logiciel ProbeSense™

TF portableSystème par courant de Foucault portable

Le système TF portable 1010 est un appareil de mesure compact et portable pour la mesure de résistivité sur de grandes surfaces. Il permet de caractériser par contact rapide de grandes surface conductrices.
Le système utilise la méthode des courants de Foucault. Cette méthode permet de faire des mesures non destructives. Il est possible de mesurer des échantillons et composants encapsulés grâce a ces courants faible qui pénètrent les couches non conductrices tel que les oxydes ou tout autres revêtements.
Le TF Portable 1010 est un appareil facile à utiliser et contrôlé via un écran tactile. Compact, il permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie d'un matériau

Avantages :

- Appareil de mesure compact et portable
- Mesure manuelle
- Mesure instantanée en direct
- Collecte de données numériques et transmission de données via Bluetooth
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées

Application:

- Verre architectural (LowE)
- Revêtements miroir
- Couches réfléchissantes
- Feuilles d'emballage
- Couches d'électrodes en verre intelligent / électrochrome et stockage d'énergie
- Électrodes de batterie
- Papier conducteur et textiles conducteurs
- Polymère conducteur

MW-Pack4PP-MEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Mapping
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2450.
• Logiciel permettant le traitement des données
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.

TF map 2525SRSystème par courant de Foucault semi-automatique

La série TF map 2525 permet d'extraire automatiquement les caractéristiques intrinsèques d'échantillons jusqu'à 250 x 250mm (10 x 10 pouces) en mode sans contact et donc non destructeur.
Lors du positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement la distribution des propriétés sur toute la zone de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 50 000 points de mesure par échantillon.
La cartographie résultante donne un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité des couches mesurées quelles soient transparentes ou opaques.
L'appareil compact permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie

Avantages:

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass

MW-Pack4PP-HEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme forte résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2635B.
• Logiciel permettant le traitement des données

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.

HMS3000Système de mesure par Effet Hall manuel

Le HMS3000 est un appareil manuel de mesure par Effet Hall de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
Il utilise la méthode de Van Der Pauw et permet de caractériser des couches semi-conductrices de différentes épaisseurs
Cet équipement ultra-compact est compatible avec plusieurs kit d'aimant (0.31T, 0.37T, 0.51T, 1T) mais aussi avec un module aimant variable.
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille d'échantillon: 5x5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Module # EVM-100
Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77 K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

S302Stand de mesure 4 pointes

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 100 ou 150 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux

HMS3300Système de mesure par Effet Hall manuel hautes températures

Le HMS3300 est un appareil manuel de mesure par Effet Hall de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
Il utilise la méthode de Van Der Pauw et permet de caractériser des couches semi-conductrices de différentes épaisseurs
Cet équipement ultra-compact est compatible avec plusieurs kit d'aimant (0.31T, 0.37T, 0.51T, 1T) mais aussi avec un module aimant variable.
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille d'échantillon: 5x5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Module # EVM-100
Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77 K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

HMS3500Système de mesure par Effet Hall manuel très hautes températures

Le HMS3500 est un appareil manuel de mesure par Effet Hall de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
Il utilise la méthode de Van Der Pauw et permet de caractériser des couches semi-conductrices de différentes épaisseurs
Cet équipement ultra-compact est compatible avec plusieurs kit d'aimant (0.31T, 0.37T, 0.51T, 1T) mais aussi avec un module aimant variable.
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille d'échantillon: 5x5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Module # EVM-100
Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77 K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

TF labSystème manuel de mesure de résistivité sans contact

La série TF lab 2020 permet de mesurer des couches minces semi-conductrices sans contact grâce aux courant de Foucault.
L'appareil de table compact est idéal pour des mesures rapides et précises d'échantillons jusqu'à 200 x 200 mm (8 x 8 pouces).
Cette mesure non destructive est possible pour une large gamme de substrat semi-conducteur ou conducteur.

Le TF lab 2020, qui existe en plusieurs version, permet des mesures de:

- Résistance de surface
- Résistivité
- Épaisseur
- Anisotropy

Avantages:

- Mesure non destructive
- Mesure en temps réel sans contact ultra rapide
- Mesure précise de couches minces conductrices à différente profondeur de pénétration
- Caractérisation de couches conductrices cachées et encapsulées
- Software facile d'utilisation & affichage des résultats en temps réel

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass

S303Stand de mesure 4 pointes grande surface

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 200 ou 300 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux

TF map 2530Système par courant de Foucault semi-automatique

La série TF map 2530 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 300 x 300 mm (12 x 12 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 100 000 points de mesure.

Le TF map 2530, qui existe en plusieurs version, permet des mesures de:

- Résistance de surface
- Résistivité
- Épaisseur
- Anisotropy

Avantages:

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère

QUADPRO2ASystème de mesure 4 pointes semi-automatique

Système semi-automatique de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.

QUADPRO2MSystème de mesure 4 pointes manuel

Système manuel de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.

PACELogiciel de mesure et de contrôle

PACE est un logiciel qui fournit une solution pour combiner des outils de mesure, automatiser des séquences de caractérisation et importer/exporter des données.

PACE s'articule autour de 3 fenêtres :
- Fenêtre de mesure : configuration et contrôle des outils de mesure
- Fenêtre de séquence : configuration et contrôle de l'exécution de la séquence
- Fenêtre de mapping : configuration du mapping et contrôle de la station de test (pour les stations semi-automatique)

L'interface peut-être personnalisée en fonction des besoins du client :
- Test MEMS sur support PCB
- Import de fichiers GDS pour mapping de wafer
- Pilotage d'analyseur de réseau (Rohde & Schwarz), SMU (Keithley, Keysight...)

HMS5000Système de mesure par Effet Hall semi-automatique en température

Le modèle HMS5000 est un système de table compact qui utilise la méthode de Van Der Pauw pour extraire un certain nombre de paramètres internes sur des échantillons de composition et géométrie variable.
Compatible avec des mesures en température allant de 77K à 350K, cet équipement permet de caractériser la résisitivité, mobilité, densité de porteur de charges, coefficient de Hall d'une large gamme de couche mince semi-conductrice.
Le HMS5000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristique:

- Taille échantillon: 5x5mm - 30x30mm
- Aimant fixe : 0.55T
- Mesure en température froide
- Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK: Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350R : De 77K à 350K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

HMS5300Système de mesure par Effet Hall semi-automatique hautes températures

Le modèle HMS5300 est un système de table compact qui utilise la méthode de Van Der Pauw pour extraire un certain nombre de paramètres internes sur des échantillons de composition et géométrie variable.
Compatible avec des mesures en température allant de 77K à 570K, cet équipement permet de caractériser la résisitivité, mobilité, densité de porteur de charges, coefficient de Hall d'une large gamme de couche mince semi-conductrice.
Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristique:

- Taille échantillon: 5x5mm - 30x30mm
- Aimant fixe : 0.55T
- Mesure en température froide
- Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK: Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350R : De 77K à 350K
- AHT55T3: De 300K à 570K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

HMS5500Système de mesure par Effet Hall semi-automatique très hautes températures

Le modèle HMS5500 est un système de table compact qui utilise la méthode de Van Der Pauw pour extraire un certain nombre de paramètres internes sur des échantillons de composition et géométrie variable.
Compatible avec des mesures en température allant de 77K à 770K, cet équipement permet de caractériser la résisitivité, mobilité, densité de porteur de charges, coefficient de Hall d'une large gamme de couche mince semi-conductrice.
Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille échantillon: 5x5mm - 30x30mm
- Aimant fixe : 0.55T
- Mesure en température froide
- Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK: Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350R : De 77K à 350K
- AHT55T3: De 300K à 570K
- AHT55T5: From 300K to 770K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

SRM232Système de mesure 4 pointes portable

Le système de résistivité portable est un dispositif qui offre la possibilité de mesurer la résistivité, résistance, résistance de surface ou bien l'épaisseur sur une grande variété de matériaux de tailles variables. Grâce à son fonctionnement sur pile, ce système présente des applications polyvalentes qui peuvent être mises à profit dans divers domaines.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Dépôt d'oxyde
- Photovoltaïque
- Céramique & Verre
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Batteries
- Electrodes

Spécifications :

• 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adapté
• Tête 4 pointes interchangeable
• Applications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure totalement mobile sur site extérieur.

ERROR

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité

ERROR

SP4Tête de mesures 4 pointes

Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en delrin avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon application & type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...

HT4Tête de mesures 4 pointes haute température

Tête 4 pointes pour haute température et haute résistivité, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en macor avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax...

ERROR

HCS100Système de mesure à effet Hall en configuration Halbach

Le HCS100 utilise un aimant en configuration Halbach (aimant permanent en configuration donut), afin d'appliquer un champ magnétique DC ou AC sur l'échantillon. La bobine de réseau Halbach a une inductance intrinsèque inférieure à celle des bobines conventionnelles. La bobine de réseau Halbach peut donc produire un champ magnétique relativement élevé à une inductance plus faible et, par conséquent, un facteur de puissance plus élevé par rapport aux bobines conventionnelles.
Ce système est donc un outil puissant pour la caractérisation d'échantillons exigeants, car les mesures de bruit peuvent facilement être supprimées dans la plupart des cas.

Spécifications:

• Courant AC/DC
• Champs : -0,5T à 0,5T
• Température : 77K à 770K
• Traçage de courbe I(V)
• Système compact

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

HCS10Système de mesure à effet hall avec électro-aimant

Le HCS10 est un système de mesure de l'effet Hall avec électro-aimant qui, en utilisant la méthode de Van Der Pauw, permet de mesurer des mobilités, densités, coefficient de Hall et résistivité dans différents types de matériaux.
L'électro-aimant refroidi à l'eau fonctionne en combinaison avec une alimentation électrique programmable et un interrupteur d'inversion de courant très utile pour caractériser certains substrats spéciaux (à faible mobilité de porteurs de charge par exemple)

Spécifications:

• Courant AC/DC
• Champs : -0,9 à 0,9T
• Fréquence Max : 0,1Hz
• Température : 77K à 870K
• Traçage de courbe I(V)
• Système compact

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

HMS7000Système de mesure photonique par Effet Hall

Le HMS7000 Photonique va cette fois-ci utiliser la méthode de Van Der Pauw sous illumination pour mesurer la réponse de plusieurs paramètres internes du matériau sous différentes contraintes photoniques. Cet équipement est parfaitement adapté au monde du photo-voltaïque et à l'étude des semi-conducteurs photoélectrique.

Comme pour les autres séries HMS, il va caractériser :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité

Spécifications:

• Aimant fixe : 0.51T
• Module photonique "illumination visible" (LED R,G,B)
• Adaptateur source externe (UV, IR)

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

MW-Model2010-MPrism coupler

Le système Metricon Prism Coupler 2010/M utilise des techniques avancées de guidage d'ondes optiques pour mesurer rapidement et précisément l'épaisseur et l'indice de réfraction/biréfringence des films diélectriques et polymères ainsi que l'indice de réfraction des matériaux en vrac. Le 2010/M offre des avantages uniques par rapport aux réfractomètres et instruments conventionnels basés sur l'ellipsométrie ou la spectrophotométrie :

• Complètement général – aucune connaissance avancée des propriétés optiques du film/substrat requise
• Résolution d'index de routine de ± 0,0005 (précision jusqu'à ± 0,0001 disponible pour de nombreuses applications)
• Résolution d'index de routine de ± 0,0003 (résolution allant jusqu'à ± 0,00005 disponible pour de nombreuses applications)
• Mesure d'indice de haute précision des matériaux en vrac, des substrats ou des liquides, y compris la biréfringence/anisotropie
• Caractérisation rapide (20 secondes) de films minces, de guides d'ondes optiques diffusés ou de structures de capteurs SPR.
• Mesure simple de l'indice par rapport à la longueur d'onde
• Options permettant de mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT) et de la perte du guide d'ondes.
• Large plage de mesure d'indice (1,0-3,35)
 Le modèle 2010/M représente une amélioration significative par rapport à son prédécesseur, le modèle 2010, offrant une compatibilité avec Windows XP/Vista/Seven, un programme de contrôle Windows grandement amélioré et convivial, et de nouvelles fonctionnalités de mesure telles que la possibilité de mesurer avec précision mesures d'épaisseur et d'indice de films très épais ainsi qu'une option pour mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT). Cela élimine également le besoin de la carte d'interface ISA désormais obsolète requise par le 2010.

HCP421V-PMHStation de test compacte sous vide non magnétique

Mini Station de test pour des mesures en température, sous vide non magnétique.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Cette station amagnétique vous permettra de pouvoir effectuer des mesures avec des bobines de Helmholtz.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce
-Test sous champs magnétiques

Spécifications :

• Station pour effectuer des mesures sous vides à l'intérieur d'un système de bobines de Helmholtz
• Dimensions de la station 180 mm x 130 mm x 26.5 mm
• Mesures sur échantillons unitaire, taille 38x42 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Chambre étanche au vide

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

HCP421V-MPSStation de test compacte sous vide

Mini Station de test conçue spécifiquement pour effectuer des mesures en température et sous vide.
Cette station est entièrement hermétique, ce qui lui permet de fournir un environnement de mesure contrôlé et stable. Grâce à cette station, vous bénéficiez d'une large gamme de possibilités pour vos expérimentations.
Les pointes utilisées dans cette station sont en Rhénium de tungstène, ce qui les rend très résistantes et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

HCP-600-G-PMStation de test compacte sous gaz

Mini Station de test pour des mesures en température et sous atmosphère contrôlée.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Elle vous permettra de faire vos mesures en température tout en envoyant un gaz neutre.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications:

• Mesures sur échantillons unitaire
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 600°C
• Injection de gaz neutre (Argon, Azote)

TRXCHUCKChuck triaxial

Le chuck triaxial permet des mesures jusqu'au fA avec l'utilisation de micropositionneurs à bras triaxial et d'une boite noire isolant de la lumière et des perturbations magnétiques.

- Il est composé de trois parties dont une partie médiane polarisable
- Disponible en version 150-200-300mm
- Le chuck triaxial existe également en version haute température associé à un chuck chauffant ou tri-temp
- Compatible avec la plupart de nos stations en remplacement du chuck standard pour des mesures de caractérisation très faible courant.

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)

HP-1000-V-PS-50Station de test sous vide

Station de probing compacte pour mesures haute température sous vide.
Cette station complètement hermétique vous permettant de monter à 1000°C tout en mettant votre échantillon sous vide.
Les pointes en Rhenium de tungstène, très résistantes au haute température et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées manuellement grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, 50x 50mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : Ambiant à 1000°C
• Chambre étanche

HVPPorte-pointe haute tension

Cette série de porte-pointes permet des mesures hautes tensions, jusqu'à 20KV.

Fixation de la pointe par mandrin ou par vis.
Idéal pour des mesures IV sur transistors HT ou diodes HT.

MW-ST400Profilomètre optique standard

Conçu avec la technologie Chromatic Light, le profileur optique ST400 mesure les longueurs d'onde physiques et offre la plus grande précision sur toute rugosité de surface, forme et matériau. Transparent ou opaque.

Déplacement sur les axes X-Y de 200 x 150 mm avec des vitesses allant jusqu'à 40 mm/s. Fournit des mesures rapides sur des large gamme d'échantillons avec des géométries variées.. Sans collage d'images !

Le logiciel avancé permet de sélectionner facilement les zones de l'écran qui seront scannées automatiquement. Des options contrôle de qualité sont disponibles pour automatiser tous les aspects des tests, y compris la reconnaissance des formes, la communication avec une base de données, les macro-programmes et les recettes d'analyse.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères

MW-PS50Profilomètre optique compact

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure des longueur d'onde, PS50 offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Grâce à un déplacement de 50 x 50 mm sur les axes X-Y, ce profilomètre optique portable permet des mesures à grande vitesse et ne nécessite pas de collage d'images.

Une unité compact avec capteur haute vitesse est vraiment une passerelle vers la frontière de la profilométrie.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères

MW-Jr100Profilomètre optique ultra rapide

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure la longueur d'onde physique, Jr100 Profiler offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Grâce à un déplacement de 100 x 100 mm sur les axes X-Y, ce profilomètre optique portable permet des mesures à grande vitesse et ne nécessite pas de collage d'images. Avec son faible encombrement et son poids de seulement 17 kg, la JR100 peut être transporté facilement dans n'importe quel endroit.

Une unité portable avec capteur haute vitesse est vraiment une passerelle vers la frontière de la profilométrie.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères

MW-CB500Testeur mécanique compact

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes compactes CB500 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures également possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères

MW-PB1000Testeur mécanique grande surface

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes PB1000 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure sur de grande surface.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures égalemment possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères

HCP-400-V-PMStation de test compacte sous vide

Mini Station de test pour des mesures en température et sous vide.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

MOTICAMS12Caméra numérique

Caméra adaptable sur tous les microscopes trinoculaires, fournie une aide au positionnement des pointes de tests.

- Logiciel de capture et de mesure fourni
- Capteur haute résolution

UH104Insolateur UV manuel

Modèle de table à faible encombrement, le modèle UH104 offre une souplesse inégalée dans l'insolation des films UV utilisés dans la découpe des wafers ou le backgrinding. Ces systèmes d'illuminations UV permettant le durcissement rapide de tous types de matériaux photo-sensibles. Principalement utilisé dans le monde du semi-conducteur, ils permettent de solidifier la colle présente sur les films adhésif utilisé lors du process de découpe. Sans danger pour l'environnement ce processus de durcissement UV s'effectue à température ambiante et à une longueur d'onde de 365nm.

Spécifications techniques:

• Système compact 8" ou 12"
• Chargement manuel, process d'insolation UV automatique.
• Substrats rectangulaires jusqu'à 12"
• Lampe UV respectueuse de l'environnement et sans ozone
• Temps de durcissement rapide
• Contrôleur basé sur un microprocesseur facilement programmable
• Fonctionnement manuel répétable
• Rapport coût/performance exceptionnel
• Processus de durcissement UVA 365 nm à basse température
• Très économe en énergie
• Fenêtre en verre de quartz
• Port de mesure de l'intensité de la lampe

Options:

- Plateforme de travail motorisée et rotative
- Adaptateur de cadre de film 6" ou 8"
- Radiomètre d'intensité de lampe UV (nécessite un ensemble capteur/atténuateur, ci-dessous)
- Ensemble capteur/atténuateur (nécessite un radiomètre ci-dessus)

HPCHUCKChuck forte puissance

Le chuck forte puissance est prévu pour être utilisé lors de caratérisation sous pointes en haute tension ou fort courant.

- Disponible en version 150, 200 ou 300 mm
- Pour des mesures hautes tensions traversantes (10KV)

MW-SCA50Sonde coaxiale faible courant

Utile pour des mesures faible courant (inf. à 10fA@150°C), cette sonde coaxiale est construite avec des composants micro-ondes. Le faible bruit est obtenu par un dépassement minimal de la pointe (3 mm).

- La pointe (remplaçable) est disponible de 0.5 µm à 20 µm
- En option : Tresse de masse, Kelvin, résistance série/parallèle...

BIBCarte de burn-in

Microworld propose des réalisations sur mesure de cartes de burn in pour tous types de composants et fours de burn in.

• Cartes de burn in pour chaleur sèche, multicouches, équipées avec les sockets de test ou nues, dessinées selon votre cahier des charges
• Cartes spéciales haute température, haute fréquence, avec circuiterie particulière...
• Cartes pour chaleur humide (85/85), pour autoclave (Hast test)
• Toute étude particulière de prototype incluant ou non la fourniture ou le design du socket adapté

D3Boite noire avec plateau

Spécialement conçue pour la mesure en température, cette boite noire type ''valise'' est munie d'un chuck (ambiant ou chauffant) ainsi que d'un plateau rond permettant de positionner plusieurs micropositionneurs magnétiques.

- Un microscope peut-être utilisé pour des motifs plus petits
- Une solution particulièrement économique pour une variété d'applications de test

CM465Station de test sous pointes semi-automatique 6"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

UxTBPorte-pointe Coaxial isolation téflon

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation téflon.

UxGBPorte-pointe Coaxial isolation céramique

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation, et hautes températures jusqu'à 600°C.

USPorte-pointe standard fixation pointe par vis

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par vis pour un encombrement réduit.

PTSE-PPointe de test en palladium

Pointe de test droite en palladium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau palladium convient particulièrement pour des surfaces difficiles à contacter ou pour des mesures faibles courants

SODSocket de test pour boitier SOD

Sockets (Support) de test SOD.
Standard ou custom sur demande.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

SRS3Wafer de calibration 3" certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an

MW-CSSubstrat de calibration pour sonde RF

Série de substrats de calibration pour sondes RF, permettant une mesure très précise.

- Configurations GSG, GS, SG ou dual (GSSG, GSGSG...)
- Plots plaqués or
- Through, short, load (50ohms)...
- Kit de calibration pour analyseur (R&S, HP...)

DFNSocket de test pour boitier DFN

Supports de test pour tous boitiers DFN.
Série standard ou socket de test personnalisé selon vos besoins (boitier, spécifications).

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

UPPorte-pointe standard fixation pointe par ressort

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par ressort pour un montage rapide et sur.

WL350-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale

DOSocket de test pour boitier DO

Supports de test pour tous boitiers DO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs de serrage par vis, ClamShell, Open Top ...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

PTSE-20BCPointe de test en cuivre béryllium

Pointe de test droite en cuivre béryllium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le cuivre béryllium convient particulièrement pour des matériaux soft type or ou cuivre, ou pour des mesures forts courants

SOKBGASocket de tests pour boitier BGA

Supports de test pour tous boitiers BGA, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Option temperature, non-magnétique, haute fréquence...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

WL250Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

SCSocket de test pour boitier SC

Socket de test : SC
Développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à 300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm

S725HTMicropositionneur S725 haute température

Ce micropositionneur permet de poser des pointes de test sur des plots et lignes de dimension > 20 µm.
Modèle spécialement conçu pour les mesures en température, jusqu'à 600°C.

FPSocket de test pour boitier FP

Supports de test pour tous boitiers FP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

TOSocket de test pour boitier TO

Supports de test pour tous boitiers TO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, température
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

SOTSocket de test pour boitier SOT

Supports de test pour tous boitiers SOT, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

SSOPSocket de test pour boitier SSOP

Supports de test pour tous boitiers SSOP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

SOICSocket de test pour boitier SOIC

Support/Socket de test SOIC, large gamme standard ou personnalisés selon le boitier et vos spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

WL1160B-8NStation de test sous pointes RF manuelle 8"

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom

SLAP90-EMicropositionneur pour multiplicateur de fréquence

Ce micropositionneur spécifique aux mesures sous pointe RF très haute fréquence à tête milimétrique permet d'accueillir les multiplicateurs de fréquences.

- Configuration Est, Ouest
- Vissé sur la platine de la station de test sous pointe pour une meilleure stabilité
- Réglage angulaire pour garantir le contact des têtes milimétriques (configurations GS, GSG, ...)
- S'adapte aux différents modèles de multiplicateur de fréquence (Rohde & Schwarz, Keysight, VDI ...)

DDPAKSocket de test pour boitier DDPAK

Socket de test DDPAK, pour boitier DDPAK.
Développements personnalisés sur demande selon vos besoins et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

SRS8Wafer de calibration 8"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 8" (200mm)
• Certification NIST valable 1 an

SMDSocket de test pour boitier SMD

Supports de test pour tous boitiers SMD, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre

ERS-AC3Chuck thermique

Depuis 50 ans ERS développe des chucks thermiques compatible avec toutes les stations de test sous pointe.

Ils possèdent les propriétés suivantes :
- Haute température : 300°C
- Basse température : une technologie brevetée à flux d'air permet le refroidissement jusqu'à -65°C
- Chuck TRIAX pour mesure faible courant (FemtoAmp)
- Chuck Haute tension
- Chuck non magnétique

CM350Station de test sous pointes semi-automatique 12"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm

MW-Jr25Profilomètre optique portable

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure des longueur d'onde physique, Jr25 Profiler offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Avec une tête de lecture entièrement rotative, une conception compacte et une portabilité complète, aucune surface n'est hors de portée.

Ce profilomètre portable ouvre la porte à la recherche et aux tests de contrôle de la qualité dans des environnements complexes qui étaient hors de portée des générations précédentes d'instruments. Les performances des instruments de laboratoire désormais disponibles sous la forme d'un bagages à main.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères

MW-T50Tribomètre modulaire

Le tribomètre modulaire standard T50 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Alors que les technologies pneumatiques avancées (disponibles sur T100 & T2000) associées à une automatisation complète repoussent les frontières de la tribologie, les technologies traditionnelles peuvent répondre à un large éventail d'applications.
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Charges appliquée jusqu'à 60N
- Stabilité maximale avec une base en tôle d'acier solide de 20 mm d'épaisseur
- Roulements de haute qualité pour une rotation et une longévité en douceur
- Meilleure précision de mesure du frottement avec cellule de charge directe

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein

MW-T100Tribomètre compact

Le tribomètre pneumatique compact T100 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Chargement vertical parfait sans aucun point de pivot
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein

MW-T2000Tribomètre forte charge

Le tribomètre pneumatique à forte charge T2000 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch / Four Ball
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Charge supplémentaire pour des simulations réelles de fatigue et d'oscillation
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein

SRS12Wafer de calibration 12"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

• Wafer 12" (300mm)
• Certification NIST valable 1 an

MOTICAM1080NCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB

MOTICAM4000Caméra numérique haute définition

Caméra numérique haute définition d'inspection et d'aide à la pose de pointes sur wafer.

Cette caméra utilise un montage C pour être montée sur la plupart des microscopes du marché.
Sa haute définition lui offre la possibilité de poser les pointes sur des plots très petits.
Elle possède plusieurs sorties pour permettre une grande variété d'utilisations (HDMI 4K, USB...).
Une carte SD peut-être connectée pour réaliser des prises d'images rapides.