Résultats de recherche pour "Pointe de test haute fréquence"

137 produits trouvés

Porte-pointe standard fixation pointe par vis

USPorte-pointe standard fixation pointe par vis

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par vis pour un encombrement réduit.
Porte-pointe standard fixation pointe par ressort

UPPorte-pointe standard fixation pointe par ressort

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par ressort pour un montage rapide et sur.
Tête de mesures 4 pointes

SP4Tête de mesures 4 pointes

Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en delrin avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon application & type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
Tête de mesures 4 pointes haute température

HT4Tête de mesures 4 pointes haute température

Tête 4 pointes pour haute température et haute résistivité, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en macor avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax...
Adaptateur de carte à pointes

S47Adaptateur de carte à pointes

Ce support mécanique permet de fixer une carte à pointes rectangulaire de 4,5" (114 mm) de large sur une station de tests sous pointes.

- Permet d'alimenter le dispositif par plusieurs pointes tout en effectuant des poses de pointes ciblées sur le milieu de la puce ou sur des plots internes de tests.
- Ce support existe en deux modèles dont l'un avec réglage de rotation.
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Ensemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

MW-Pack4PP-MEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Mapping
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2450.
• Logiciel permettant le traitement des données
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.
Ensemble de mesure 4 pointes manuel gamme forte résistivité

MW-Pack4PP-HEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme forte résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2635B.
• Logiciel permettant le traitement des données

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.
Station de test sous pointes semi-automatique 6"

CM465Station de test sous pointes semi-automatique 6"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
Station de test sous pointes semi-automatique 8"

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
Station de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Station de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

WL350-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Station de test sous pointes semi-automatique 12"

CM350Station de test sous pointes semi-automatique 12"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
Pointe fort courant

MWPHCPointe fort courant

La pointe HCP (High Current Probe) est conçue d'après un design innovateur et unique, Le courant est distribué sur les contacts et un radiateur inclus dissipe la chaleur au niveau du plot. L'utilisateur dispose ainsi d'une connexion Kelvin au niveau du plot de contact pour un investissement minimal.

- Specs PowerPro 3kV triax / 10kV coax, 450A pulsed / 10A DC
- Pointes en Tungstène, corps en céramique pour utilisation haute température
- Montage sur micropositionneur RF
- Modèle MWPHC-100, MWPHC-450
- Accessoire indispensable à l'option forte puissance PowerPro
Carte à pointes

ProbecardCarte à pointes

Les cartes à pointes permettent de répondre à toutes les applications de test de production et notamment là où les contraintes techniques sont importantes : grande densité de pointes, faible espacement (pitch), test parallèle (multi-DUT), contrainte technologique (low-k, plot sur cicuit actif...).

- Service de design pcb disponible permettant de réaliser des cartes spécifiques
- Tous services de fabrication, diagnostic, réparation, alignement...
- Adaptable pour tests sur plots ou sur bumps
Stand de mesure 4 pointes

S302Stand de mesure 4 pointes

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 100 ou 150 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux
Système de mesure 4 pointes semi-automatique

QUADPRO2ASystème de mesure 4 pointes semi-automatique

Système semi-automatique de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.



Carte à pointes haute puissance

HP-probecardCarte à pointes haute puissance

Nous proposons des cartes à pointes spécifiques pour les applications hautes puissances.
De l'air sous haute pression est injecté dans la chambre de la carte à pointes pour éviter les arcs électriques.

- Haute tension jusqu'à 10KV
- Fort courant jusqu'à 100A
Station de test sous pointes manuelle 4"

H150Station de test sous pointes manuelle 4"

Station de tests sous pointes facile à utiliser pour wafers jusqu'à 100mm.

- Déplacement du chuck XY
- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs ou carte à pointes
- Support microscope fixe
Station de test sous pointes manuelle 8"

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

WL250Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à 300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
Système de mesure 4 pointes manuel

QUADPRO2MSystème de mesure 4 pointes manuel

Système manuel de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.
Porte-pointe haute tension

HVPPorte-pointe haute tension

Cette série de porte-pointes permet des mesures hautes tensions, jusqu'à 20KV.

Fixation de la pointe par mandrin ou par vis.
Idéal pour des mesures IV sur transistors HT ou diodes HT.
Stand de mesure 4 pointes grande surface

S303Stand de mesure 4 pointes grande surface

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 200 ou 300 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)
Pointe de test en osmium

PTSE-OPointe de test en osmium

Pointe de test droite en osmium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau osmium convient particulièrement pour des surfaces fragiles
Pointe de test en tungstène plaquée or

PTSE-TGPointe de test en tungstène plaquée or

Pointe de test droite en tungstène plaquée or, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau tungstène doré convient particulièrement pour des surfaces fragiles


Pointe de test en palladium

PTSE-PPointe de test en palladium

Pointe de test droite en palladium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau palladium convient particulièrement pour des surfaces difficiles à contacter ou pour des mesures faibles courants
Pointe de test en carbure de tungstène

PTSE-TCPointe de test en carbure de tungstène

Pointe de test droite en carbure de tungstène, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau carbure de tungstène convient particulièrement pour des surfaces dures
Pointe de test en cuivre béryllium

PTSE-20BCPointe de test en cuivre béryllium

Pointe de test droite en cuivre béryllium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le cuivre béryllium convient particulièrement pour des matériaux soft type or ou cuivre, ou pour des mesures forts courants
Porte-pointe Triaxial

TRXPorte-pointe Triaxial

Porte-pointe à très faible niveau de bruit (± 2 fA lorsque utilisé avec un chuck triaxial et en environnement clos).

Se monte sur les micropositionneurs S725P, S926P, SP100P, SP150P.
Système de mesure 4 pointes portable

SRM232Système de mesure 4 pointes portable

Le système de résistivité portable est un dispositif qui offre la possibilité de mesurer la résistivité, résistance, résistance de surface ou bien l'épaisseur sur une grande variété de matériaux de tailles variables. Grâce à son fonctionnement sur pile, ce système présente des applications polyvalentes qui peuvent être mises à profit dans divers domaines.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Dépôt d'oxyde
- Photovoltaïque
- Céramique & Verre
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Batteries
- Electrodes

Spécifications :

• 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adapté
• Tête 4 pointes interchangeable
• Applications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure totalement mobile sur site extérieur.
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Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)
Pointe de test en cuivre avec fil tungstène

PTG4Pointe de test en cuivre avec fil tungstène

Pointe de test droite composée d'un corps en tungstène sur lequel est rapporté par soudure un fil  de diamètre plus fin, la tige flexible minimise les dommages sur le matériau de contact et supporte mieux les vibrations ambiantes.

- Longueur de la tige flexible 3 à 5 mm, diamètre 5 à 125 microns
- Finesse de bout de du fil tungstène de 0.1 à 5 microns
- Usage pour tests sur plots et/ou sur lignes internes
- Le corps rigide en tungstène peut être plié suivant différentes formes et/ou coupé pour dégager l'espace dans le cas d'objectif à très courte distance de travail
Porte-pointe Coaxial isolation téflon

UxTBPorte-pointe Coaxial isolation téflon

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation téflon.
Porte-pointe Coaxial isolation céramique

UxGBPorte-pointe Coaxial isolation céramique

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation, et hautes températures jusqu'à 600°C.
Pointe de test en tungstène

PTG20Pointe de test en tungstène

Pointe de test droite avec finesse (tip radius) de 0,5 à 100 µm, le corps rigide en tungstène peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Matériau tungstène, longueur totale 38 mm
- Usage pour tests sous pointes standard sur plots et/ou sur motifs
- Le corps peut être plaquée nickel pour soudure aisée, ajouter suffixe "N" au P/N
Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

WL210Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à 300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm
Station de test sous pointes RF manuelle 8"

WL1160B-8NStation de test sous pointes RF manuelle 8"

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
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Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

WL170-THzStation de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).

- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail
Sonde coaxiale Kelvin

MW-SCA250Sonde coaxiale Kelvin

Destinée à la mesure faible signaux, ces sondes coaxiales et Kelvin disposent de deux pointes indépendantes lorsque l'application nécessite de poser 2 pointes sur un même plot.

- Fil de 50 ohms semi-rigide de 200 µm isolé par un diélectrique Téflon, le faible bruit est obtenu par un dépassement minimal de la pointe (3 mm)
- Double-pointe disponible de 5 µm à 12,5 µm avec espacement de 12,5 à 100 µm
Sonde active 35

MWPA-35Sonde active 35

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 26 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS3
- La pointe (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R35. Attention, cette sonde est livrée sans sa pointe de remplacement.
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 18C, 19C, 28, 29, 34A
Sonde active 12C

MWPA-12CSonde active 12C

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée

- Gamme de fréquence DC jusqu'à 500 MHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Une pointe de remplacement est fournie avec la sonde, voir également la série de pointes remplaçables MWPA-R12C
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 18C, 19C, 28, 29, 34A, 35
Micropositionneur RF & Microwave

SM40Micropositionneur RF & Microwave

Ce micropositionneur est spécifiquement conçu pour recevoir des pointes multicontact de configuration coplanaire, il dispose de déplacements de 25mm sur chaque axe et d'un système de prévention de mouvement intempestif de la pointe (cross roller bearing).

- Ultra-stable avec fixation par vis sur le plateau (option base magnétique).
- Molette de réglage de coplanarité pour les pointes multicontact (GS, GSG, GSGSG, ...).
- Disponible avec différentes orientations pour montage de la tête RF (Nord, Sud, Est, Ouest).
Sonde passive multi-applications

MWPA-10Sonde passive multi-applications

Sonde passive multi-applications ultra-rapide, utilisation en stimuli et réception de signal, réponse en fréquence DC à 11 GHz (selon impédance d'entrée).

- Adaptable sur tous micropositionneurs, à spécifier
- Câble coaxial 50 ohms inclus (longueur 1 m), terminaison SMA et connecteur miniature pour les pointes
- Pointes coaxiales remplaçables de longueur 38mm (à 1 ou 2 points de contact selon configuration)
- Choix d'impédance d'entrée 50, 250, 500 ou 5k ohm par résistance incorporée au niveau des pointes
Sonde active 34A

MWPA-34ASonde active 34A

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 3 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe fournie (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R34A
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 18C, 19C, 28, 29, 35
Sonde active 28

MWPA-28Sonde active 28

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 1 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe fournie (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R28
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 112C, 18C, 19C, 29, 34A, 35
Sonde active 18C

MWPA-18CSonde active 18C

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 350MHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (à préciser lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe (remplaçable et fournie) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R18C
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 19, 28, 29, 34A et 35
Micropositionneur RF & Microwave

SM90Micropositionneur RF & Microwave

Ce micropositionneur est spécifiquement conçu pour recevoir des pointes multicontact de configuration coplanaire, il dispose de déplacements de 25mm sur chaque axe et d'un système de prévention de mouvement intempestif de la pointe (cross roller bearing).

- Ultra-stable avec fixation par vis sur le plateau (option base magnétique).
- Molette de réglage de co-planarité pour les pointes multixontact (GS, GSG, GSGSG, ...).
- Disponible avec différentes orientations pour montage de la tête RF (Nord, Sud, Est, Ouest).
Boite noire personnalisée

MW-DBBoite noire personnalisée

Pour les systèmes de test sous pointes non équipés de chambre locale, Microworld offre des boites noires permettant d'isoler les stations de tests sous pointes ou tout autre système.

- Isolation électrique et lumineuse
- Sécurité utilisateur pour utilisation en haute tension
- Panneaux de connecteurs traversants
- Passage de câble col de cygne
- Taille et design sur demande
Micropositionneur submicronique ultra-stable SP150

SP150Micropositionneur submicronique ultra-stable SP150

Micropositionneur de haute précision et ultra-stable avec molettes de mouvements en ligne, permet de poser des pointes sur des plots ou sur des lignes avec une précision submicronique.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Choix de tête Pivotante P ou Standard (descente avec molette Z).
- Le SP150 représente le micropositionneur le plus abouti actuellement disponible pour des positionnements de très grande précision.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.
Microscope à tourelle

PSM1000Microscope à tourelle

Microscope à tourelle d'inspection à forts grossissements.
Il est nécessaire pour le positionnement de pointes de tests sur des petites surfaces de contact.

- Peut être utilisé seul (sur stand) ou monté sur une station de test sous pointes
- Gamme d'accessoires et d'objectifs disponibles (NIR, NUV, polariseur, analyseur...)
- La tête trinoculaire permet l'utilisation de caméras numériques
- Application spectroscopique possible
Sonde coaxiale faible courant

MW-SCA50Sonde coaxiale faible courant

Utile pour des mesures faible courant (inf. à 10fA@150°C), cette sonde coaxiale est construite avec des composants micro-ondes. Le faible bruit est obtenu par un dépassement minimal de la pointe (3 mm).

- La pointe (remplaçable) est disponible de 0.5 µm à 20 µm
- En option : Tresse de masse, Kelvin, résistance série/parallèle...
Sonde active 7

MWPA-7Sonde active 7

Cette série de sondes est destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles en complément aux modèles 12C et 18C pour stimuler les circuits et mesurer les réponses des noeuds adjacents

- Le câble flexible coaxial de 1,8m terminé par une impédance de 50 ohms élimine les réflexions
- Le connecteur miniature reçoit la pointe (remplaçable) avec une isolation coaxiale jusqu'à 3 mm du bout afin d'éviter les capacités parasites
- Diverses références de finesse et de forme sont disponibles
- Modèles disponibles : 7, 7A, adaptable sur tout micropositionneur (modèle à préciser)
- Pour des applications en température (jusqu'à 200°C), les modèles MWPA-7-HT et MWPA-7A-HT sont disponibles
Sonde de mesure de température

ProbeSenseSonde de mesure de température

ProbeSense™ est un appareil en instance de brevet pour l'étalonnage de la température entre -65°C et 300°C.

La température a toujours été un paramètre important lors du test des capteurs, mais la tendance est désormais de passer de simples tests fonctionnels à un étalonnage à certaines températures. Pour répondre aux exigences des appareils tels que les capteurs de température, de gaz, d'humidité et de pression, ERS a développé une solution unique qui permet des mesures de température très précises sur l'ensemble du chuck.

L'appareil s'appelle ProbeSense™ : un outil d'étalonnage de température unique, composé d'un seul capteur. Il est monté à la place de la carte à pointe de la station de tests sous pointes et est connecté à un instrument d'étalonnage, où une précision inférieure à 30 mK peut être atteinte. Un processus d'étalonnage entièrement automatisé est également possible avec une intégration du ProbeSense™ dans un logiciel.

ProbeSense™ est livré dans une valise robuste et faite sur mesure et contient les composants suivants :

• ProbeSense™ avec un capteur calibré jusqu'à 10 mK
• Support d'adaptation pour divers modèles de stations de tests
• Appareil de mesure de température câble
• Batterie de rechange pour l'appareil de mesure
• Clé USB avec logiciel ProbeSense™
Micropositionneur haute précision SP100

SP100Micropositionneur haute précision SP100

Ce micropositionneur de haute précision avec ses molettes en ligne permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Option tête pivotante (plongée rapide pour pré-positionnement Z puis mouvement fin) ou Standard avec molette Z.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.
Micropositionneur de précision S926 avec tête pivotante

S926PMicropositionneur de précision S926 avec tête pivotante

Ce micropostionneur permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.
Sa tête pivotante est idéale pour les stations de test sous pointe avec une descente rapide en Z et positionnement fin.
Station de test compacte sous vide

HCP421V-MPSStation de test compacte sous vide

Mini Station de test conçue spécifiquement pour effectuer des mesures en température et sous vide.
Cette station est entièrement hermétique, ce qui lui permet de fournir un environnement de mesure contrôlé et stable. Grâce à cette station, vous bénéficiez d'une large gamme de possibilités pour vos expérimentations.
Les pointes utilisées dans cette station sont en Rhénium de tungstène, ce qui les rend très résistantes et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

 • Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

Caméra numérique haute définition

MOTICAM4000Caméra numérique haute définition

Caméra numérique haute définition d'inspection et d'aide à la pose de pointes sur wafer.

Cette caméra utilise un montage C pour être montée sur la plupart des microscopes du marché.
Sa haute définition lui offre la possibilité de poser les pointes sur des plots très petits.
Elle possède plusieurs sorties pour permettre une grande variété d'utilisations (HDMI 4K, USB...).
Une carte SD peut-être connectée pour réaliser des prises d'images rapides.
Micropositionneur pour multiplicateur de fréquence

SLAP90-EMicropositionneur pour multiplicateur de fréquence

Ce micropositionneur spécifique aux mesures sous pointe RF très haute fréquence à tête milimétrique permet d'accueillir les multiplicateurs de fréquences.

- Configuration Est, Ouest
- Vissé sur la platine de la station de test sous pointe pour une meilleure stabilité
- Réglage angulaire pour garantir le contact des têtes milimétriques (configurations GS, GSG, ...)
- S'adapte aux différents modèles de multiplicateur de fréquence (Rohde & Schwarz, Keysight, VDI ...)
Station de test compacte sous gaz

HCP-600-G-PMStation de test compacte sous gaz

Mini Station de test pour des mesures en température et sous atmosphère contrôlée.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Elle vous permettra de faire vos mesures en température tout en envoyant un gaz neutre.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications:

• Mesures sur échantillons unitaire
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 600°C
• Injection de gaz neutre (Argon, Azote)
Station de test sous vide

HP-1000-V-PS-50Station de test sous vide

Station de probing compacte pour mesures haute température sous vide.
Cette station complètement hermétique vous permettant de monter à 1000°C tout en mettant votre échantillon sous vide.
Les pointes en Rhenium de tungstène, très résistantes au haute température et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées manuellement grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

 • Mesures sur échantillons unitaire, 50x 50mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : Ambiant à 1000°C
• Chambre étanche
Station de test compacte sous vide non magnétique

HCP421V-PMHStation de test compacte sous vide non magnétique

Mini Station de test pour des mesures en température, sous vide non magnétique.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Cette station amagnétique vous permettra de pouvoir effectuer des mesures avec des bobines de Helmholtz.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce
-Test sous champs magnétiques


Spécifications :

 • Station pour effectuer des mesures sous vides à l'intérieur d'un système de bobines de Helmholtz
• Dimensions de la station 180 mm x 130 mm x 26.5 mm
• Mesures sur échantillons unitaire, taille 38x42 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Chambre étanche au vide
Station de test compacte sous vide

HCP-400-V-PMStation de test compacte sous vide

Mini Station de test pour des mesures en température et sous vide.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

Support de carte PCB

CM-BMCSupport de carte PCB

Ce support de cartes PCB permet de fixer des cartes électroniques munies de composants sur une station de test sous pointes.

- Utile pour l'analyse de défaillances sur composants montés sur carte ou nécessitant une circuiterie spécifique
Micropositionneur joystick économique

S750Micropositionneur joystick économique

Micropositionneur économique pour circuits hybrides et plots de contact assez grands (supérieurs à 500 µm).

- Un mouvement large X-Y est couplée à un mouvement ajustable Z.
- Sa base est magnétique et les dimensions particulièrement restreintes.
- Il accepte les porte-pointes modèles standard U.
- Rallonge joystick optionnelle pour plus de précision.
Chuck forte puissance

HPCHUCKChuck forte puissance

Le chuck forte puissance est prévu pour être utilisé lors de caratérisation sous pointes en haute tension ou fort courant.

- Disponible en version 150, 200 ou 300 mm
- Pour des mesures hautes tensions traversantes (10KV)
Porte-échantillon pour systèmes HMS

SPCBPorte-échantillon pour systèmes HMS

Ce porte-échantillon "rapide" est composé d'une carte PCB sur laquelle se fixent par clip l'échantillon à analyser (max 20x20mm )
- Quatre pointes à ressort plaquées or permettent le contact sur les cotés de l'échantillon (dans certains cas une goutte de soudure d'indium sera déposée en plus, selon le type de matériau)
- Montage sans soudure
Micropositionneur S725 avec tête pivotante

S725PMicropositionneur S725 avec tête pivotante

Ce micropositionneur permet de positionner des pointe à des plots et lignes de dimension > 20 µm.
La tête pivotante est conçue pour une plongée rapide en Z avant positionnement fin.
Caméra numérique

MOTICAM1080NCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB
Wafer de calibration 3" certifié NIST

SRS3Wafer de calibration 3" certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an
Micropositionneur S725 avec tête à ressort

S725SMicropositionneur S725 avec tête à ressort

Ce modèle de micropositionneur permet d'accéder à des plots et des lignes de dimensions >20 µm.
La tête à ressort permet de limiter la pression de la pointe sur le plot (pour surface fragile ou applications en température).
Accessoires pour machine d'impression

3Dn-accessoriesAccessoires pour machine d'impression

Nous proposons quatre outils avancées conçues pour être compatibles avec n'importe quel système de la série 3Dn ou 3DX. Ces outils incluent SmartPump, nFD, nMill et nPnP360. ils offrent une polyvalence et étendent les capacités du processus d'impression, permettant une fabrication multi-processus et l'intégration de fonctionnalités supplémentaires.

L'outils d'impression 3D nFD, la tête d'extrusion de matériau chauffée (FDM ou FFF) et la pointe du stylet nTip à changement rapide sont des outils essentiels pour l'impression 3D sur les plates-formes de fabrication 3D. Utilisez le nTip standard pour les filaments de 1,75 mm et les filaments non standard. Retirez et nettoyez facilement ou changez les buses si besoin. nFD combiné à ses support de mouvement de précision produit les pièces extrudées les plus lisses et les plus reproductibles du marché, sans processus de lissage post-construction. Utilisez le plus petit nTip disponible dans le commerce (25 μm) pour des caractéristiques extrêmement fines. Ajoutez la fonction de suivi Z pour construire de manière conforme sur des structures de n'importe quelle forme.

Le nMill est une broche à grande vitesse conçue pour le fraisage, le perçage et le polissage de micro-précision. nMill est l'outil parfait pour le post-traitement de pratiquement n'importe quel matériau micro-déposé ou extrudé. Moteur et broche à 50 000 tr/min avec un fuseau total inférieur à 1 um. Équipé d'une fraise en bout exclusivement conçue pour le traitement du plastique, de micro-perceuses pour des vias de haute précision et d'une meule de polissage pour une finition lisse. Le système de collecte de poussière intégré protège à la fois la pièce et les débris de la machine. La buse de refroidissement par air empêche les thermoplastiques de fondre et réduit le temps de traitement. Le collet 1/8" accepte une large gamme d'embouts.

Le nPnP360 est une tête d'outil pick and place. Il applique une légère pression sur le composant pour le prélèvement et le placement, 20" Hg à 80 psi et 360 degrés de rotation, permettant à l'utilisateur d'orienter la pièce avec une grande précision. Le nPnP360 utilise des aiguilles "Luer Lock" interchangeables, ce qui permet de prélever et de placer des composants de différentes tailles. Le nPnP360 peut s'enfoncer de 3 mm après le contact initial, ce qui crée une bonne étanchéité pour le crochetage et un bon contact entre les composants et les pastilles lors du placement d'un composant.

Le SmartPump est la base de la micro-déposition d'encre sur les équipements des séries 3Dn et 3DX. La soupape brevetée et l'embout nTip de cette pompe à pression positive à commande numérique (aussi petit que 25 μm) permettent des démarrages et des arrêts presque parfaits (pas de bavure) de matériaux avec des viscosités extrêmes, allant des encres à nanoparticules 1cP à plus de 1 million de pâtes chargées en flocons cP. La SmartPump peut déposer plus de 10 000 matériaux disponibles dans le commerce avec un contrôle de volume jusqu'à 100 picolitres. Cet outil robuste a démontré des lignes imprimées aussi petites que 20 μm de large et des points aussi petits que 50 μm (selon le matériau). Une version chauffante est disponible.
Micropositionneur de précision S926 avec tête à ressort

S926SMicropositionneur de précision S926 avec tête à ressort

Ce micropostionneur permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.
Sa tête à ressort est idéale pour les applications en température ou sur les surfaces fragiles.
Microscope stéréozoom

SMZ171Microscope stéréozoom

Microscope stéréozoom à grossissement modéré pour faciliter le positionnement des pointes de tests.

- Très grande distance de travail (WD = 110mm)
- Montage C pour caméra numérique (version trinoculaire)
- Large gamme d'objectifs et d'oculaires pour tout grossissement
- Eclairage à LED ou fibre optique disponible
Micropositionneur S725 haute température

S725HTMicropositionneur S725 haute température

Ce micropositionneur permet de poser des pointes de test sur des plots et lignes de dimension > 20 µm.
Modèle spécialement conçu pour les mesures en température, jusqu'à 600°C.
Microscope mono-objectif

MS12ZMicroscope mono-objectif

Ce microscope est composé d'un mono-objectif avec un zoom interne inclus.
Il permet un grande plage de grossissement sans l'inconvénient de la tourelle pour des applications de tests sous pointes.

- Compact et léger
- Grande distance de travail (idéal pour applications hautes fréquences)
- Montage C pour caméra
- Grande luminosité (éclairage par fibre optique LED)
Table antivibratoire sur coussin d'air

TA-VIS-7575Table antivibratoire sur coussin d'air

Table montée sur coussins d'air permettant un amortissement des vibrations du sol pour de l'analyse sous pointes de grande précision ou de l'inspection optique.

- Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipement
- Rattrapage automatique du niveau horizontal
Table antivibratoire sur coussin d'air

TA-VIS-9090Table antivibratoire sur coussin d'air

Table montée sur coussins d'air permettant un amortissement des vibrations du sol pour de l'analyse sous pointes de grande précision ou de l'inspection optique.

- Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipement
- Rattrapage automatique du niveau horizontal
Wafer de calibration 8"

SRS8Wafer de calibration 8"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 8" (200mm)
• Certification NIST valable 1 an
Chuck thermique

ERS-AC3Chuck thermique

Depuis 50 ans ERS développe des chucks thermiques compatible avec toutes les stations de test sous pointe.

Ils possèdent les propriétés suivantes :
- Haute température : 300°C
- Basse température : une technologie brevetée à flux d'air permet le refroidissement jusqu'à -65°C
- Chuck TRIAX pour mesure faible courant (FemtoAmp)
- Chuck Haute tension
- Chuck non magnétique
ERROR

ERROR

ERROR
Caméra numérique

MOTICAMS12Caméra numérique

Caméra adaptable sur tous les microscopes trinoculaires, fournie une aide au positionnement des pointes de tests.

- Logiciel de capture et de mesure fourni
- Capteur haute résolution
Wafer de calibration 12"

SRS12Wafer de calibration 12"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 12" (300mm)
• Certification NIST valable 1 an
Caméra numérique

MOTICAM1080XCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB
Socket de test pour boitier DFN

DFNSocket de test pour boitier DFN

Supports de test pour tous boitiers DFN.
Série standard ou socket de test personnalisé selon vos besoins (boitier, spécifications).

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier DO

DOSocket de test pour boitier DO

Supports de test pour tous boitiers DO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs de serrage par vis, ClamShell, Open Top ...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de tests pour boitier BGA

SOKBGASocket de tests pour boitier BGA

Supports de test pour tous boitiers BGA, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Option temperature, non-magnétique, haute fréquence...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre


Socket de tests pour boitiers LCC

SOKLCCSocket de tests pour boitiers LCC

Supports de test pour tous boitiers, récents ou anciens, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

 • Espacement entre plots (pitch) selon boitier, temperature, options
• Plus de 5000 Designs de sockets tous styles en version ClamShell, Open Top, Fixation par vis...avec contacts type C, billes, pogo pins...
• Options de contact à double hauteur
• Mise en place et déchargement du composant facilement
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre.
Socket de test pour boitier SC

SCSocket de test pour boitier SC

Socket de test : SC
Développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier FP

FPSocket de test pour boitier FP

Supports de test pour tous boitiers FP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier TO

TOSocket de test pour boitier TO

Supports de test pour tous boitiers TO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, température
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SOT

SOTSocket de test pour boitier SOT

Supports de test pour tous boitiers SOT, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SSOP

SSOPSocket de test pour boitier SSOP

Supports de test pour tous boitiers SSOP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SOIC

SOICSocket de test pour boitier SOIC

Support/Socket de test SOIC, large gamme standard ou personnalisés selon le boitier et vos spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier DDPAK

DDPAKSocket de test pour boitier DDPAK

Socket de test DDPAK, pour boitier DDPAK.
Développements personnalisés sur demande selon vos besoins et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SMD

SMDSocket de test pour boitier SMD

Supports de test pour tous boitiers SMD, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de tests pour boitier QFN

SOKQFNSocket de tests pour boitier QFN

Socket de tests pour boitiers QFN, récents ou anciens, supports existant sur catalogue, développements semi-custom ou full custom.

 • Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm
• Multiples options Kelvin, non-magnétiques, multi-positions, dissipation par radiateur...
• Différents designs possibles, ClamShell ou Open Top...
• Plusieurs options, haute Fréquence, Haute temperature
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre.



Socket de test personnalisé

SOKCUSTSocket de test personnalisé

Support de test et burn in développé spécifiquement (d'après cahier des charges) pour un composant et un environnement de test particuliers.

 • Applications : HF, forte puissance, Contraintes électriques / mécaniques particulières...
• Conception en deux étapes : Fourniture du schéma (2 semaines) - Approbation - Fabrication (6 semaines)
• Ce type de support dessiné sur cahier des charges répond totalement à votre application
Socket de test pour boitier SOD

SODSocket de test pour boitier SOD

Sockets (Support) de test SOD.
Standard ou custom sur demande.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Testeur mécanique compact

MW-CB500Testeur mécanique compact

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes compactes CB500 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures également possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères
Testeur mécanique grande surface

MW-PB1000Testeur mécanique grande surface

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes PB1000 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure sur de grande surface.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures égalemment possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères
Tribomètre modulaire

MW-T50Tribomètre modulaire

Le tribomètre modulaire standard T50 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Alors que les technologies pneumatiques avancées (disponibles sur T100 & T2000) associées à une automatisation complète repoussent les frontières de la tribologie, les technologies traditionnelles peuvent répondre à un large éventail d'applications.
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Charges appliquée jusqu'à 60N
- Stabilité maximale avec une base en tôle d'acier solide de 20 mm d'épaisseur
- Roulements de haute qualité pour une rotation et une longévité en douceur
- Meilleure précision de mesure du frottement avec cellule de charge directe

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Tribomètre compact

MW-T100Tribomètre compact

Le tribomètre pneumatique compact T100 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Chargement vertical parfait sans aucun point de pivot
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Tribomètre forte charge

MW-T2000Tribomètre forte charge

Le tribomètre pneumatique à forte charge T2000 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch / Four Ball
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Charge supplémentaire pour des simulations réelles de fatigue et d'oscillation
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Carte de burn-in

BIBCarte de burn-in

Microworld propose des réalisations sur mesure de cartes de burn in pour tous types de composants et fours de burn in.

 • Cartes de burn in pour chaleur sèche, multicouches, équipées avec les sockets de test ou nues, dessinées selon votre cahier des charges
• Cartes spéciales haute température, haute fréquence, avec circuiterie particulière...
• Cartes pour chaleur humide (85/85), pour autoclave (Hast test)
• Toute étude particulière de prototype incluant ou non la fourniture ou le design du socket adapté
Logiciel de mesure et de contrôle

PACELogiciel de mesure et de contrôle

PACE est un logiciel qui fournit une solution pour combiner des outils de mesure, automatiser des séquences de caractérisation et importer/exporter des données.

PACE s'articule autour de 3 fenêtres :
- Fenêtre de mesure : configuration et contrôle des outils de mesure
- Fenêtre de séquence : configuration et contrôle de l'exécution de la séquence
- Fenêtre de mapping : configuration du mapping et contrôle de la station de test (pour les stations semi-automatique)

L'interface peut-être personnalisée en fonction des besoins du client :
- Test MEMS sur support PCB
- Import de fichiers GDS pour mapping de wafer
- Pilotage d'analyseur de réseau (Rohde & Schwarz), SMU (Keithley, Keysight...)
Testeur thermique

MW-TYLTesteur thermique

MW-TYL est une gamme de testeur thermique (girafe de test en température) fabriqué en France proposant des températures allant de - 70°C à à 225°C en standard.
Il permet aux acteurs de la filière électronique et micro-électronique de réaliser des tests de cyclage thermique (selon la norme MIL-STD-810H par
exemple).

Nous proposons deux modèles de conditionneur thermique (conditionneur de température) à air, une version - 30°C (allant de - 30°C à 225°C) et une version - 70°C (allant de - 70°C à 225°C).
Le débit d'utilisation pour les deux versions est de 2,2 à 8,5 L/s en continu.
L'écran en façade est de 7 pouces et celui de la tête de 4 pouces.
La communication externe peut être GPIB 488.2 ou RS232.
Cordon flexible pour sonde RF 110 GHz

PT110Cordon flexible pour sonde RF 110 GHz

Les cordons microwave UTiFLEX® sont construits à l'aide d'un diélectrique PTFE de faible ou ultra-basse densité couplé à des conducteurs extérieurs entièrement blindés et à une fixation de connecteur unique qui résiste bien mieux aux contraintes mécaniques et thermiques que les connecteurs standard.
Le résultat : d'excellentes caractéristiques de perte, une stabilité de phase exceptionnelle et une superbe flexibilité par rapport aux câbles flexibles standards, le tout sans sacrifier l'intégrité mécanique.

Fabriqué à Pottstown, en Pennsylvanie, sous la direction experte de notre équipe d'ingénieurs professionnels, chaque assemblage de câbles UTiFLEX est testé pour la perte d'insertion et le SWR, et expédié avec un certificat de test individuel.
Cordon flexible pour sonde RF 67 GHz

UFP088DCordon flexible pour sonde RF 67 GHz

Les cordons microwave UTiFLEX® sont construits à l'aide d'un diélectrique PTFE de faible ou ultra-basse densité couplé à des conducteurs extérieurs entièrement blindés et à une fixation de connecteur unique qui résiste bien mieux aux contraintes mécaniques et thermiques que les connecteurs standard.
Le résultat : d'excellentes caractéristiques de perte, une stabilité de phase exceptionnelle et une superbe flexibilité par rapport aux câbles flexibles standards, le tout sans sacrifier l'intégrité mécanique.

Fabriqué à Pottstown, en Pennsylvanie, sous la direction experte de notre équipe d'ingénieurs professionnels, chaque assemblage de câbles UTiFLEX est testé pour la perte d'insertion et le SWR, et expédié avec un certificat de test individuel.
Cordon flexible pour sonde RF 40 GHz

UFB142ACordon flexible pour sonde RF 40 GHz

Les cordons microwave UTiFLEX® sont construits à l'aide d'un diélectrique PTFE de faible ou ultra-basse densité couplé à des conducteurs extérieurs entièrement blindés et à une fixation de connecteur unique qui résiste bien mieux aux contraintes mécaniques et thermiques que les connecteurs standard.
Le résultat : d'excellentes caractéristiques de perte, une stabilité de phase exceptionnelle et une superbe flexibilité par rapport aux câbles flexibles standards, le tout sans sacrifier l'intégrité mécanique.

Fabriqué à Pottstown, en Pennsylvanie, sous la direction experte de notre équipe d'ingénieurs professionnels, chaque assemblage de câbles UTiFLEX est testé pour la perte d'insertion et le SWR, et expédié avec un certificat de test individuel.
Boite noire pour mesures fortes puissances

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité
Pull Tester

MPT10Pull Tester

Le système MPT10 satisfait par sa précison de Pull test pour évaluer la qualité du Bond requis pour un processus fiable.

Des accessoires et des outils appropriés sont disponibles pour tester des fils fins de 15µm à 100µm de diamètre.
- Simple et robuste
- Ne nécessite aucune formation pour fonctionner
Profilomètre optique standard

MW-ST400Profilomètre optique standard

Conçu avec la technologie Chromatic Light, le profileur optique ST400 mesure les longueurs d'onde physiques et offre la plus grande précision sur toute rugosité de surface, forme et matériau. Transparent ou opaque.

Déplacement sur les axes X-Y de 200 x 150 mm avec des vitesses allant jusqu'à 40 mm/s. Fournit des mesures rapides sur des large gamme d'échantillons avec des géométries variées.. Sans collage d'images !

Le logiciel avancé permet de sélectionner facilement les zones de l'écran qui seront scannées automatiquement. Des options contrôle de qualité sont disponibles pour automatiser tous les aspects des tests, y compris la reconnaissance des formes, la communication avec une base de données, les macro-programmes et les recettes d'analyse.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères
Profilomètre optique portable

MW-Jr25Profilomètre optique portable

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure des longueur d'onde physique, Jr25 Profiler offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Avec une tête de lecture entièrement rotative, une conception compacte et une portabilité complète, aucune surface n'est hors de portée.

Ce profilomètre portable ouvre la porte à la recherche et aux tests de contrôle de la qualité dans des environnements complexes qui étaient hors de portée des générations précédentes d'instruments. Les performances des instruments de laboratoire désormais disponibles sous la forme d'un bagages à main.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères









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Système de mesure par Effet Hall semi-automatique hautes températures

HMS5300Système de mesure par Effet Hall semi-automatique hautes températures

Le modèle HMS5300 est un système de table compact qui utilise la méthode de Van Der Pauw pour extraire un certain nombre de paramètres internes sur des échantillons de composition et géométrie variable.
Compatible avec des mesures en température allant de 77K à 570K, cet équipement permet de caractériser la résisitivité, mobilité, densité de porteur de charges, coefficient de Hall d'une large gamme de couche mince semi-conductrice.
Le HMS5300 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristique:

- Taille échantillon: 5x5mm - 30x30mm
- Aimant fixe : 0.55T
- Mesure en température froide
- Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK: Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350R : De 77K à 350K
- AHT55T3: De 300K à 570K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure par Effet Hall semi-automatique très hautes températures

HMS5500Système de mesure par Effet Hall semi-automatique très hautes températures

Le modèle HMS5500 est un système de table compact qui utilise la méthode de Van Der Pauw pour extraire un certain nombre de paramètres internes sur des échantillons de composition et géométrie variable.
Compatible avec des mesures en température allant de 77K à 770K, cet équipement permet de caractériser la résisitivité, mobilité, densité de porteur de charges, coefficient de Hall d'une large gamme de couche mince semi-conductrice.
Le HMS5500 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille échantillon: 5x5mm - 30x30mm
- Aimant fixe : 0.55T
- Mesure en température froide
- Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK: Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350R : De 77K à 350K
- AHT55T3: De 300K à 570K
- AHT55T5: From 300K to 770K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure par Effet Hall manuel hautes températures

HMS3300Système de mesure par Effet Hall manuel hautes températures

Le HMS3300 est un appareil manuel de mesure par Effet Hall de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
Il utilise la méthode de Van Der Pauw et permet de caractériser des couches semi-conductrices de différentes épaisseurs
Cet équipement ultra-compact est compatible avec plusieurs kit d'aimant (0.31T, 0.37T, 0.51T, 1T) mais aussi avec un module aimant variable.
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille d'échantillon: 5x5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Module # EVM-100
Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77 K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure par Effet Hall manuel très hautes températures

HMS3500Système de mesure par Effet Hall manuel très hautes températures

Le HMS3500 est un appareil manuel de mesure par Effet Hall de résistivité, mobilité, concentration des porteurs, coefficient d'effet Hall...
Il utilise la méthode de Van Der Pauw et permet de caractériser des couches semi-conductrices de différentes épaisseurs
Cet équipement ultra-compact est compatible avec plusieurs kit d'aimant (0.31T, 0.37T, 0.51T, 1T) mais aussi avec un module aimant variable.
Le HMS3000 comprend un logiciel capable de vérifier la qualité des contacts ohmiques en traçant des courbes I-V.

Caractéristiques:

- Taille d'échantillon: 5x5mm à 25x25 mm
- Mesure à deux températures, ambiante (t° ambiante) et 77K
- Aimant
- Chambre LN2 avec entonnoir
- Échantillon de référence ITO
- Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Module # EVM-100
Champ : 0,25 ~ 0,9 T à température ambiante
Champ : 0,25 ~ 0,5 T à température ambiante et 77 K

Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Machine d'impression et de process

3Dn-300Machine d'impression et de process

3Dn-300 est un système d'impression 3D avancé qui combine précision, polyvalence et évolutivité pour fournir des solutions de fabrication additive de haute qualité. Avec son grand volume de construction et ses capacités robustes, le 3Dn-300 est conçu pour répondre aux besoins exigeants de la fabrication industrielle, du prototypage rapide et des applications de recherche.

Équipé de la technologie SmartPump™, le 3Dn-300 est capable de traiter une large gamme de matériaux, notamment des métaux, des céramiques, des polymères, des composites et même des biomatériaux. Cette polyvalence permet aux fabricants et aux chercheurs d'explorer diverses possibilités de fabrication et de sélectionner le matériau le plus adapté à leurs besoins spécifiques.

Le système de contrôle de mouvement de précision du système garantit une précision et une répétabilité exceptionnelles pendant le processus d'impression. Il utilise des capteurs de positionnement haute résolution et des mécanismes de rétroaction intelligents pour maintenir un alignement précis des couches et minimiser les erreurs. Ce niveau de contrôle permet la production de géométries complexes, de détails fins et de structures complexes avec une finition de surface supérieure.

Pour améliorer encore les capacités du 3Dn-300, nous proposons diverses fonctionnalités optionnelles. Celles-ci incluent des capacités de frittage, un support chauffant pour une meilleure performance des matériaux, un durcissement UV pour une solidification rapide des matériaux, une intégration laser pour des techniques de traitement avancées, une vision industrielle et un balayage pour le suivi Z et l'impression conforme, et une vue des processus en temps réel pour la surveillance et l'optimisation.

Le 3Dn-300 peut être intégré à des modules et outils supplémentaires, tels que des têtes de fraisage, des modules pick-and-place et des systèmes d'inspection, élargissant encore ses capacités et permettant la fabrication multi-processus. Cette polyvalence en fait une solution hautement adaptable qui peut répondre à un large éventail d'exigences de fabrication.

3Dn-300 est un système d'impression 3D puissant et polyvalent conçu pour la fabrication additive à l'échelle industrielle. Avec son grand volume de construction, la polyvalence de ses matériaux, son contrôle de mouvement de précision et ses fonctionnalités avancées, le 3Dn-300 permet aux fabricants et aux chercheurs de produire des pièces de haute qualité, complexes et fonctionnelles avec efficacité et fiabilité.
Profilomètre optique compact

MW-PS50Profilomètre optique compact

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure des longueur d'onde, PS50 offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Grâce à un déplacement de 50 x 50 mm sur les axes X-Y, ce profilomètre optique portable permet des mesures à grande vitesse et ne nécessite pas de collage d'images.

Une unité compact avec capteur haute vitesse est vraiment une passerelle vers la frontière de la profilométrie.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères
Profilomètre optique ultra rapide

MW-Jr100Profilomètre optique ultra rapide

Conçu avec la technologie Chromatic Light, qui mesure la longueur d'onde physique, Jr100 Profiler offre la plus haute précision sur toutes les rugosités, toutes les formes et tous les matériaux. Transparent ou opaque.

Grâce à un déplacement de 100 x 100 mm sur les axes X-Y, ce profilomètre optique portable permet des mesures à grande vitesse et ne nécessite pas de collage d'images. Avec son faible encombrement et son poids de seulement 17 kg, la JR100 peut être transporté facilement dans n'importe quel endroit.

Une unité portable avec capteur haute vitesse est vraiment une passerelle vers la frontière de la profilométrie.

Avantages:

- Meilleur sur surfaces à grand angles
- Rapide pour larges surfaces
- Très facile à utiliser
- Pas de couture d'image
- Pas de préparation d'échantillon
- Pas de recentrage vertical

Applications:

- Topographie de surface organique
- Microstructure des fossiles
- Fractographie de pièces usinées
- Analyse de la surface de lentille
- Rugosité des polymères
Chuck triaxial

TRXCHUCKChuck triaxial

Le chuck triaxial permet des mesures jusqu'au fA avec l'utilisation de micropositionneurs à bras triaxial et d'une boite noire isolant de la lumière et des perturbations magnétiques.

- Il est composé de trois parties dont une partie médiane polarisable
- Disponible en version 150-200-300mm
- Le chuck triaxial  existe également en version haute température associé à un chuck chauffant ou tri-temp
- Compatible avec la plupart de nos stations en remplacement du chuck standard pour des mesures de caractérisation très faible courant.
Rapid Thermal Processor 1200°C

RTP1200Rapid Thermal Processor 1200°C

Le RTP1200 est un système puissant et simple d'utilisation qui permet d'atteindre une très haute température rapidement grâce à 4 lampes halogène.

- Réglage de la vitesse de montée en température
- Système sous vide
- Injection de gaz possible
- Idéal pour optimisation de contacts
Sonde RF 50 GHz

MWRF-50ASonde RF 50 GHz

Une gamme de sondes dédiées RF Microwave de DC à 50GHz en configuration GSG, SG, GS ou ''dual'' (2 sondes sur un micropositionneur).

- Ces sondes sont disponibles pour différents espacements (pitch) de 25 à 1250µm.
- Plusieurs styles de montage sur le micropositionneur
- Connecteur femelle 2,4mm
- Disponibles en BeCu, Nickel ou Tungstène
- Option Non Magnétique
- Option haute température et forte puissance, nous consulter
Sonde RF 67 GHz

MWRF-67ASonde RF 67 GHz

Une gamme de sondes dédiées RF Microwave de DC à 67GHz en configuration GSG, SG, GS ou ''dual'' (2 sondes sur un micropositionneur).

- Ces sondes sont disponibles pour différents espacements (pitch) de 25 à 1250µm.
- Plusieurs styles de montage sur le micropositionneur
- Connecteur V femelle 1,85mm
- Disponibles en BeCu ou Tungstène
- Option Non Magnétique
- Option haute température et forte puissance, nous consulter
Machine d'impression et de process de table

3Dn-TabletopMachine d'impression et de process de table

Les systèmes 3Dn-Tabletop et 3Dn-Tabletop Trunnion (option 5/6 axes) sont des solutions avancées d'impression 3D et de fabrication additive conçues pour une fabrication de haute précision dans un format compact et polyvalent. Ces systèmes combinent un contrôle de mouvement de précision, un logiciel de pilotage et une large gamme de matériaux utilisables pour permettre la création d'objets complexes, fonctionnels et détaillés.

Les deux machines sont des systèmes de fabrication additive de table qui offrent une précision et une exactitude exceptionnelles. Il utilise une combinaison de contrôle de mouvement et de technologie de balayage pour atteindre une résolution au niveau du micron, permettant la création de structures complexes avec des détails fins. Le système prend en charge une large gamme de matériaux, y compris les métaux, les polymères, les céramiques et les composites, offrant une flexibilité pour diverses applications.

L'une des caractéristiques du système 3Dn-Tabletop est son architecture évolutive. Il peut être facilement configuré et personnalisé pour répondre à des besoins de fabrication spécifiques. Le système propose des des outils interchangeables, permettant l'intégration de divers processus de fabrication tels que la l'impression d'encre conductrice de précision, l'impression 3D, le fraisage et l'assemblage par pick and place. Cette polyvalence le rend adapté à un large éventail d'applications, notamment le prototypage, la microfabrication, la fabrication électronique et la recherche biomédicale.

Le système 3Dn-Tabletop Trunnion est une extension du 3Dn-Tabletop, ajoutant deux axes de rotation supplémentaires aux capacités de l'imprimante. Ce système de tourelle permet une impression multi-axes pouvant ainsi créer facilement des géométries complexes et des surfaces courbes. L'axe de rotation améliore la liberté de conception et permet la fabrication de pièces avec des contre-dépouilles, des porte-à-faux et d'autres caractéristiques difficiles.

Les systèmes 3Dn-Tabletop et 3Dn-Tabletop Trunnion sont équipés de progiciels sophistiqués (nStudio™ et RhinoCAD™) qui permettent un contrôle intuitif du processus d'impression. Le logiciel offre des capacités de découpage avancées, une intégration CAO et une surveillance en temps réel, garantissant une qualité et une efficacité d'impression optimales. De plus, les systèmes sont compatibles avec divers formats de fichiers, facilitant une intégration transparente dans les flux de travail de conception numérique existants

Machine d'impression et de process

3Dn-700Machine d'impression et de process

3Dx-700 est un système avancé d'impression et de fabrication 3D qui fournit une solution complète pour la fabrication de produits. Ce système est conçu pour offrir une haute précision, une polyvalence et des capacités multi-outils, ce qui le rend adapté à une large gamme d'applications dans diverses industries.

Le 3Dx-700 utilise une plate-forme de mouvement à 5/6 axes, fournissant un système de contrôle de mouvement précis. Cela permet aux outils de se déplacer le long de plusieurs axes, permettant des processus de fabrication complexes. Avec cette liberté de mouvement, le système peut suivre des trajectoires allant de surfaces normales à multi-courbes, facilitant ainsi de véritables capacités de fabrication en trois dimensions.

Le système intègre un mécanisme de changement d'outil, qui bascule de manière transparente entre différentes têtes d'outils : SmartPump*, nFD*, nMill* et nPnP*. Ce changeur d'outils ainsi que le support motorisé permettent des transitions rapides et efficaces entre les différents processus de fabrication. Qu'il s'agisse d'impression 3D, de fraisage ou d'assemblage pick-and-place, le 3Dx-700 offre un flux de travail transparent pour répondre aux diverses exigences de fabrication.

Pour rationaliser l'ensemble du processus de fabrication, le 3Dx-700 est équipé de nStudio™ et RhinoCAD™, un progiciel avancé. nStudio™ fournit un ensemble complet d'outils pour l'intégration CAO, la planification de trajectoire et le contrôle des têtes d'outils. Le logiciel permet à l'utilisateur de passer directement d'un fichier CAO à un produit complet et pleinement fonctionnel, y compris l'intégration de l'électronique. Cela signifie que le 3Dx-700 produit non seulement des composants structurels, mais permet également la création de structures électriquement fonctionnelles, résultant en un produit entièrement fini.

En offrant une solution de fabrication tout-en-un, la 3Dx-700 révolutionne le concept de l'impression 3D en la transformant en une véritable fabrication 3D. De la conception initiale au produit final, y compris les géométries complexes, les composants fonctionnels et l'intégration électronique, le 3Dx-700 permet aux utilisateurs de créer des produits complets et pleinement opérationnels avec une précision et une efficacité exceptionnelles.
Système par courant de Foucault semi-automatique

TF map 2525SRSystème par courant de Foucault semi-automatique

La série TF map 2525 permet d'extraire automatiquement les caractéristiques intrinsèques d'échantillons jusqu'à 250 x 250mm (10 x 10 pouces) en mode sans contact et donc non destructeur.
Lors du positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement la distribution des propriétés sur toute la zone de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 50 000 points de mesure par échantillon.
La cartographie résultante donne un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité des couches mesurées quelles soient transparentes ou opaques.
L'appareil compact permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie

Avantages:

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
Système par courant de Foucault semi-automatique

TF map 2530Système par courant de Foucault semi-automatique

La série TF map 2530 mesure automatiquement la résistance de couche de grands échantillons jusqu'à 300 x 300 mm (12 x 12 pouces) en mode sans contact.
Après un positionnement manuel de l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la couche sur toute la zone de l'échantillon.
Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et de manière flexible entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une résolution de mesure spatiale élevée de plus de 100 000 points de mesure.

Le TF map 2530, qui existe en plusieurs version, permet des mesures de:

- Résistance de surface
- Résistivité
- Épaisseur
- Anisotropy

Avantages:

- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure


Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
Précelle standard

STD-tweezersPrécelle standard

Large choix de précelles haute précision pour les applications en électronique, industrie médicale et autre (horlogerie...).
Différent matériaux et finitions pour chaque utilisations.
Prism coupler

MW-Model2010-MPrism coupler

Le système Metricon Prism Coupler 2010/M utilise des techniques avancées de guidage d'ondes optiques pour mesurer rapidement et précisément l'épaisseur et l'indice de réfraction/biréfringence des films diélectriques et polymères ainsi que l'indice de réfraction des matériaux en vrac. Le 2010/M offre des avantages uniques par rapport aux réfractomètres et instruments conventionnels basés sur l'ellipsométrie ou la spectrophotométrie :

• Complètement général – aucune connaissance avancée des propriétés optiques du film/substrat requise
• Résolution d'index de routine de ± 0,0005 (précision jusqu'à ± 0,0001 disponible pour de nombreuses applications)
• Résolution d'index de routine de ± 0,0003 (résolution allant jusqu'à ± 0,00005 disponible pour de nombreuses applications)
• Mesure d'indice de haute précision des matériaux en vrac, des substrats ou des liquides, y compris la biréfringence/anisotropie
• Caractérisation rapide (20 secondes) de films minces, de guides d'ondes optiques diffusés ou de structures de capteurs SPR.
• Mesure simple de l'indice par rapport à la longueur d'onde
• Options permettant de mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT) et de la perte du guide d'ondes.
• Large plage de mesure d'indice (1,0-3,35)

Le modèle 2010/M représente une amélioration significative par rapport à son prédécesseur, le modèle 2010, offrant une compatibilité avec Windows XP/Vista/Seven, un programme de contrôle Windows grandement amélioré et convivial, et de nouvelles fonctionnalités de mesure telles que la possibilité de mesurer avec précision mesures d'épaisseur et d'indice de films très épais ainsi qu'une option pour mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT). Cela élimine également le besoin de la carte d'interface ISA désormais obsolète requise par le 2010.
Système de mesure à effet hall avec électro-aimant

HCS10Système de mesure à effet hall avec électro-aimant

Le HCS10 est un système de mesure de l'effet Hall avec électro-aimant qui, en utilisant la méthode de Van Der Pauw, permet de mesurer des mobilités, densités, coefficient de Hall et résistivité dans différents types de matériaux.
L'électro-aimant refroidi à l'eau fonctionne en combinaison avec une alimentation électrique programmable et un interrupteur d'inversion de courant très utile pour caractériser certains substrats spéciaux (à faible mobilité de porteurs de charge par exemple)

Spécifications:

 • Courant AC/DC
• Champs : -0,9 à 0,9T
• Fréquence Max : 0,1Hz
• Température : 77K à 870K
• Traçage de courbe I(V)
• Système compact


Applications:

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Pour toute information, devis, commande ou demande de rendez-vous avec un spécialiste technico-commercial.
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