Résultats de recherche pour "Stand de mesure 4 pointes"

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Stand de mesure 4 pointes

S302Stand de mesure 4 pointes

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 100 ou 150 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux
Stand de mesure 4 pointes grande surface

S303Stand de mesure 4 pointes grande surface

Le système se compose d'une potence de maintien de la tête 4PP avec levier de descente et d'un plateau de réception pour wafer 200 ou 300 mm. Le positionnement de l'échantillon est manuel ainsi que la mise en contact de la tête 4 pointes sur l'échantillon.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications :

• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact
• La mesure est effectuée par un appareil externe de type Keithley qui peut faire partie de la fourniture
• Le système peut être complété par le logiciel de mesure et d'affichage des résultats
• Parfait pour pour laboratoires, universités, centres de recherche... dans le domaine caractérisation de matériaux
Microscope à tourelle

PSM1000Microscope à tourelle

Microscope à tourelle d'inspection à forts grossissements.
Il est nécessaire pour le positionnement de pointes de tests sur des petites surfaces de contact.

- Peut être utilisé seul (sur stand) ou monté sur une station de test sous pointes
- Gamme d'accessoires et d'objectifs disponibles (NIR, NUV, polariseur, analyseur...)
- La tête trinoculaire permet l'utilisation de caméras numériques
- Application spectroscopique possible
Tête de mesures 4 pointes

SP4Tête de mesures 4 pointes

Tête 4 pointes pour température ambiante, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en delrin avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon application & type de couche
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, fiches banane, BNC, câbles triaxiaux, connecteur 9 broches...
Ensemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

MW-Pack4PP-MEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme moyenne résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Mapping
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2450.
• Logiciel permettant le traitement des données
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.
Tête de mesures 4 pointes haute température

HT4Tête de mesures 4 pointes haute température

Tête 4 pointes pour haute température et haute résistivité, utilisable sur équipements de la série Pack4PP, Quadpro et ou pour une utilisation séparée. La tête standard est conçue en macor avec 4 pointes indépendantes en tungstène ou en osmium. Une baïonnette ainsi que deux vis permettent de fixer la pointe à notre stand 4 pointes facilement pour des mesures précises et répétables.

Spécifications :

• Matériau des pointes défini selon type de couche à mesurer
• Choix des paramètres : Espacements de pointes (pitch), finesses de bout, pression des pointes
• Terminaisons : Fils volants, Banana jacks, Triax...
Ensemble de mesure 4 pointes manuel gamme forte résistivité

MW-Pack4PP-HEnsemble de mesure 4 pointes manuel gamme forte résistivité

Système de mesure 4 pointes pour laboratoires, pour la recherche et petites productions. Le stand comprend plusieurs fonctionnalités lui permettant d'assurer des mesures de résistivité et de résistance de surface grâce à 4 pointes précises. Il est possible de caractériser les matériaux fabriqués par dopage semi-conducteur, dépot de métal ou sur verre, matériaux caoutchouc...

Un levier manuel permet de faire un mouvement en Z de contact et non contact avec une répétabilité de l'ordre du micron. De plus, une molette de réglage située sur le dessus de l'appareil permet d'affiner avec précision le mouvement en Z.
L'échantillon à tester est monté sur un support mobile qui permet de se placer sous la tête de mesure facilement entre chaque point de mesure.
De plus, l'équipement dispose de plusieurs tailles de chuck allant de 4" à 12".

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Création d'une courbe I/V
• Mesure bipolaire
• Export de données sous format Txt, Excel, CSV...
• Un micro-switch permet d'assurer l'injection du courant à partir du moment où toutes les pointes sont en contact.
• La mesure est effectuée par un appareil externe Keithley 2635B.
• Logiciel permettant le traitement des données

Le système de mesure utilise un logiciel de mesure et d'affichage des résultats qui permet l'exportation des données pour un traitement de données postérieur. Il est possible d'effectuer une cartographie de l'échantillon en fonction des résistivités ou des épaisseurs mesurées.
L'utilisateur saisit la taille et forme de l'échantillon, bord d'exclusion et nombre de point à tester. Une image graphique des points de mesure cibles est affichée. A la fin du test de tous les points, nous retrouvons la moyenne des valeurs mesurées, l'écart type ainsi que les maximums et minimums de mesure.
Système de mesure 4 pointes semi-automatique

QUADPRO2ASystème de mesure 4 pointes semi-automatique

Système semi-automatique de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.



Système de mesure 4 pointes manuel

QUADPRO2MSystème de mesure 4 pointes manuel

Système manuel de mesure 4 pointes en ligne en température sur échantillon allant de 10mm à 300mm de diamètre. Capable de mesurer des gammes de résistance de surface de 10μΩ/sq à 10GΩ/sq. Plusieurs versions possibles pour optimiser la précision sur la mesure en fonction des gammes testées.

Spécifications:

• Mesure V/I, résistance de feuille, résistivité ou épaisseur
• Rapports Moyenne, Écart-type, Minimum, Maximum et 3Sigma pour l'ensemble de données
• Mesures du coefficient de température de résistance (TCR)
• Cartographie 2D automatisée, cartographie 3D et coupe transversale
• Ultra haute précision et répétabilité
• Cartographie comparative

L'option TCR

L'option Coefficient de température de résistance intègre le contrôle de la température de l'échantillon ainsi que le contrôle automatisé du courant injecté et les calculs de résistance.
Intégré à un système de chuck thermique, le test balaie automatiquement les températures sur une large gamme sans déplacer les pointes de test. Les mesures sont prises à chaque températures cibles et les résultats sont tracés sur un graphique. Le TCR est exprimé en parties par million (PPM).
Les utilisateurs définissent la plage de température, les paliers, et le delay pour chaque point de test avant d'effectuer une mesure. Une variété de chuck thermiques sont disponibles pour définir la plage et la résolution allant de la température ambiante à 300°C, avec une résolution de 1°.
Les données peuvent être imprimées ou exportées vers une feuille de calcul pour une analyse plus approfondie.
Système manuel de mesure de résistivité sans contact

TF labSystème manuel de mesure de résistivité sans contact

Le système EddyCus® lab 2020 SR est un système de bureau compact conçu pour les mesures sans contact et en un seul point de couches minces conductrices, d'épaisseurs de couches métalliques et de résistances de surface par courants de Foucault. Il permet des mesures rapides et précises d'échantillons jusqu'à 200 x 200 mm (8 x 8 pouces) et est compatible avec une large gamme de matériaux, notamment les couches métalliques minces, les wafers dopées et les polymères conducteurs.

L'EddyCus® lab 2020 offre une alternative moderne et sans contact aux méthodes traditionnelles de mesure par contact (4PP et autres méthodes par contact). Contrairement aux systèmes 4PP, il ne nécessite aucun contact physique, aucune préparation de surface et est insensible aux encapsulations et à la rugosité de surface. Pour en savoir plus, consultez la comparaison entre les méthodes par courants de Foucault et 4PP.

Ces avantages font de l'EddyCus® lab 2020 un excellent choix pour les laboratoires de R&D, le contrôle qualité et la surveillance des procédés, où la rapidité, la répétabilité et les essais non destructifs sont essentiels.

L'EddyCus® lab 2020, disponible en plusieurs versions, permet de mesurer :

- la résistance de surface
- la résistivité
- l'épaisseur des couches métalliques
- la conductivité
- l'anisotropie
- l'émissivité

Avantages :

- Mesure non destructive
- Mesure ultra-rapide, sans contact et en temps réel
- Mesure précise des couches conductrices minces à différentes profondeurs de pénétration
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Logiciel convivial et affichage des résultats en temps réel

Applications :

- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
- Verre architectural revêtu
- Verre électrochrome intelligent, Smart Glass
Système de mesure par Effet Hall semi-automatique hautes températures

HMS5300Système de mesure par Effet Hall semi-automatique hautes températures

Découvrez notre système d'effet Hall semi-automatique HMS5300, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces en température. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

Son système semi-automatique de rampe en température et de mesures sous champs magnétique le rend totalement autonome le temps de la mesure.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille échantillon : 5x5mm - 20x20mm
• Double aimant motorisé : 0.5T
• Mesure en température : 77K à 350K
• Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK : Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350K : De 77K à 350K
- AHT55T3 : De 300K à 570K
- AHT55T5 : From 300K to 770K

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure par Effet Hall semi-automatique très hautes températures

HMS5500Système de mesure par Effet Hall semi-automatique très hautes températures

Découvrez notre système d'effet Hall semi-automatique HMS5500, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces en température. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

Son système semi-automatique de rampe en température et de mesures sous champs magnétique le rend totalement autonome le temps de la mesure.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille échantillon : 5x5mm - 20x20mm
• Double aimant motorisé : 0.5T
• Mesure en température : 77K à 350K
• Gamme de courant : 1nA - 20mA

Modules température compatibles :

- AMP55T-RTSK : Ambiant ou 77K
- AMP55T-SH80350K : De 77K à 350K
- AHT55T3 : De 300K à 570K
- AHT55T5 : From 300K to 770K

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure par Effet Hall semi-automatique en température

HMS5000Système de mesure par Effet Hall semi-automatique en température

Le HMS5000 est un système de mesure par effet Hall motorisé dédié à la caractérisation électrique des matériaux semi-conducteurs par la méthode de Van der Pauw. Conçu pour s'adapter à des échantillons de compositions et de géométries variées, il permet l'extraction précise de nombreux paramètres électriques essentiels.
Compatible avec des mesures en température de 77 K à 350 K, le HMS5000 offre une solution complète pour l'analyse des couches minces semi-conductrices.

Grâce à sa grande polyvalence, le système convient aussi bien aux activités de recherche qu'aux applications de développement et de contrôle qualité dans les domaines des matériaux avancés et de la microélectronique.

Le HMS5000 intègre également un logiciel dédié permettant de vérifier la qualité des contacts ohmiques via le tracé automatique des courbes I-V, garantissant ainsi la fiabilité et la reproductibilité des mesures. Il permet aussi de gérer le mouvement des aimants et les rampes de températures pour tracer la réponse de votre échantillon.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille échantillon : 5x5mm - 20x20mm
• Double aimant motorisé : 0.5T
• Mesure en température : 77K à 350K
• Gamme de courant : 1nA - 20mA

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Sonde de mesure de température

ProbeSenseSonde de mesure de température

ProbeSense™ est un appareil en instance de brevet pour l'étalonnage de la température entre -65°C et 300°C.

La température a toujours été un paramètre important lors du test des capteurs, mais la tendance est désormais de passer de simples tests fonctionnels à un étalonnage à certaines températures. Pour répondre aux exigences des appareils tels que les capteurs de température, de gaz, d'humidité et de pression, ERS a développé une solution unique qui permet des mesures de température très précises sur l'ensemble du chuck.

L'appareil s'appelle ProbeSense™ : un outil d'étalonnage de température unique, composé d'un seul capteur. Il est monté à la place de la carte à pointe de la station de tests sous pointes et est connecté à un instrument d'étalonnage, où une précision inférieure à 30 mK peut être atteinte. Un processus d'étalonnage entièrement automatisé est également possible avec une intégration du ProbeSense™ dans un logiciel.

ProbeSense™ est livré dans une valise robuste et faite sur mesure et contient les composants suivants :

• ProbeSense™ avec un capteur calibré jusqu'à 10 mK
• Support d'adaptation pour divers modèles de stations de tests
• Appareil de mesure de température câble
• Batterie de rechange pour l'appareil de mesure
• Clé USB avec logiciel ProbeSense™
Système de mesure par Effet Hall manuel

HMS3000Système de mesure par Effet Hall manuel

Découvrez notre système d'effet Hall manuel HMS3000, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

Il est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Caractéristiques :

• Taille d'échantillon: 5x5mm à 20x20 mm
• Mesure à deux températures, ambiante et 77K
• Aimant simple ou double
• Chambre LN2
• Échantillon de référence ITO
• Porte-échantillons SPCB différents selon l'application

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Logiciel de mesure et de contrôle

PACELogiciel de mesure et de contrôle

PACE est un logiciel qui fournit une solution pour combiner des outils de mesure, automatiser des séquences de caractérisation et importer/exporter des données.

PACE s'articule autour de 3 fenêtres :
- Fenêtre de mesure : configuration et contrôle des outils de mesure
- Fenêtre de séquence : configuration et contrôle de l'exécution de la séquence
- Fenêtre de mapping : configuration du mapping et contrôle de la station de test (pour les stations semi-automatique)

L'interface peut-être personnalisée en fonction des besoins du client :
- Test MEMS sur support PCB
- Import de fichiers GDS pour mapping de wafer
- Pilotage d'analyseur de réseau (Rohde & Schwarz), SMU (Keithley, Keysight...)
Système de mesure photonique par Effet Hall

HMS7000Système de mesure photonique par Effet Hall

Notre système d'effet Hall semi-automatique HMS7000 photonique, conçu pour l'étude et la caractérisation des propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs et des couches minces sous illumination. Cet équipement pédagogique et expérimental permet d'analyser avec précision la mobilité des porteurs de charge, la concentration en porteurs, ainsi que la résistivité des échantillons.

Grâce à la mesure des tensions générées sous l'action des forces de Lorentz via son module d'aimant permanent, le système offre une compréhension concrète des phénomènes de transport électronique et des effets liés au dopage des matériaux. Compatible avec la méthode de Van der Pauw, il permet d'effectuer des mesures fiables sur des géométries variées et des films minces.

L'illumination photonique, utilisant 3 LED de couleurs différentes, génère des porteurs de charge supplémentaires dans le semi-conducteur (électrons/trous), ce qui améliore ou module la réponse Hall.

Robuste et simple d'utilisation, ce système effet Hall manuel est idéal pour les laboratoires d'enseignement supérieur, les centres de recherche et les applications de caractérisation en physique des semi-conducteurs et science des matériaux.

l est ainsi possible de calculer :

• Mobilité de porteurs de charges
• Densité de porteurs majoritaires (dopants)
• Le type de dopage (P/N)
• La tension de Hall / Coefficient de Hall
• Des résistances de surface, résistivité, conductivité

Spécifications :

• Aimant fixe : 0.51T
• Module photonique "illumination visible" (LED R,G,B)
• Adaptateur source externe (UV, IR)

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Dépôt d'oxyde
- Céramique & Verre
- Batteries
- Electrodes
- Photovoltaïque
Système de mesure 4 pointes portable

SRM232Système de mesure 4 pointes portable

Le système de résistivité portable est un dispositif qui offre la possibilité de mesurer la résistivité, résistance, résistance de surface ou bien l'épaisseur sur une grande variété de matériaux de tailles variables. Grâce à son fonctionnement sur pile, ce système présente des applications polyvalentes qui peuvent être mises à profit dans divers domaines.

Applications :

- Si, Ge, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ZnO, TCOs
- Dépôt d'oxyde
- Photovoltaïque
- Céramique & Verre
- Composant optoélectronique
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS
- Polymère conducteur
- Batteries
- Electrodes

Spécifications :

• 4 modèles/gammes de mesure disponibles avec calibrateur adapté
• Tête 4 pointes interchangeable
• Applications : Conductivité/résistivité de couches sur panneaux de grandes dimensions, fuselages, carrosseries... ou en mesure totalement mobile sur site extérieur.
Boite noire pour mesures fortes puissances

FixtureBoxBoite noire pour mesures fortes puissances

Solution test fixture compacte pour mesures Haute-tensions (HV) et Fort-courants (HC)

- Mesures jusqu'à 10kV
- Compatibilité Keithley et Keysight
- Interlock de sécurité
Système par courant de Foucault semi-automatique

TF map 2530Système par courant de Foucault semi-automatique

L'EddyCus map 2530 TM mesure automatiquement la résistance de surface d'échantillons de grande taille, jusqu'à 300 × 300 mm² (12 × 12 pouces), en mode sans contact. Après le positionnement manuel de l'échantillon, le système effectue un balayage entièrement automatisé et génère une cartographie haute résolution de la résistance de surface sur toute la surface.

L'outil utilise un capteur à courants de Foucault stationnaire, tandis que la platine porte-échantillon se déplace pour permettre le balayage. Cette conception permet des mesures instantanées, sans contact physique, éliminant ainsi les erreurs dues à la résistance de contact. Selon les paramètres sélectionnés, les utilisateurs peuvent privilégier des temps de mesure rapides (moins d'une minute) ou une haute résolution spatiale (jusqu'à 90 000 points de mesure par balayage).

La mesure sans contact garantit une précision et une répétabilité élevées, indépendamment de l'état de surface ou de la qualité du contact. La grille de mesure dense permet une détection fiable des variations de matériau, des inhomogénéités et des défauts. Le logiciel fourni offre une large gamme d'outils d'analyse avancés, permettant un contrôle qualité systématique des couches minces en production et en recherche.

L'appareil est généralement utilisé pour :
- Technologie : courants de Foucault sans contact
- Imagerie par cartographie multipoint
- Zone d'échantillonnage : 300 × 300 mm
- Tailles d'échantillons recommandées : de 25 à 300 mm (1 à 12 pouces)

L'EddyCus map 2530, disponible en plusieurs versions, permet de mesurer :
- La résistance de surface
- La résistivité
- L'épaisseur
- L'anisotropie
- L'émissivité

Avantages :
- Mesure sans contact
- Non destructif
- Mesure rapide et précise
- Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
- Imagerie de substrats
- Détection des défauts et analyse des revêtements
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées
- Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (distribution de résistance de feuille, balayage de ligne, analyse de point unique...)
- Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure

Applications :
- Écran, écran tactile et écran plat
- Applications OLED et LED
- Couches de graphène
- Wafer et cellules photovoltaïques
- Wafer semi-conducteur
- Couche de métallisation et métallisation de wafer
- Électrodes de batterie
- Papier et textile conducteurs
- Conducteur organique
- Polymère
Profilomètre de planéité 3D

MW-TopMap-Pro.SurfProfilomètre de planéité 3D

Les profilomètres optiques TopMap Pro.Surf et Pro.Surf sont prêts pour la production et permettent des mesures de contrôle qualité traçables et ultra-rapides. Ils analysent les paramètres de forme 3D et la planéité avec une répétabilité optimale, en capturant environ 2 millions de points de données en quelques secondes.

L'immense champ unique de 44 x 33 mm garantit une précision maximale, tandis que la technologie True Stitching assure des données précises jusqu'à 230 x 220 mm. La reconnaissance automatique des formes permet des mesures multi-échantillons rapides et efficaces, sans montage mécanique. L'optique télécentrique permet d'atteindre les zones en retrait et les surfaces internes, avec des décalages jusqu'à 70 mm. Cet interféromètre à balayage de cohérence (CSIT) intègre la technologie SST Smart Scanning pour des mesures continues sur presque tous les matériaux, avec une seule technologie, et gère parfaitement les variations de réflectivité.

Le large éventail de routines d'analyse permet une évaluation simple et conforme aux normes ISO des paramètres de rugosité et de forme. La gestion intégrée des recettes simplifie les inspections de routine et garantit la cohérence des mesures, tandis que les opérations en un clic accélèrent l'analyse de conformité en atelier. L'accessoire FTP unique mesure la planéité, l'épaisseur et le parallélisme en effectuant une mesure simultanée des surfaces supérieure et inférieure d'un échantillon. Pour les environnements bruyants et perturbés, la technologie brevetée de compensation environnementale ECT garantit une mesure stable.
Système par courant de Foucault portable

TF portableSystème par courant de Foucault portable

Le système TF portable 1010 est un appareil de mesure compact et portable pour la mesure de résistivité sur de grandes surfaces. Il permet de caractériser par contact rapide de grandes surface conductrices.
Le système utilise la méthode des courants de Foucault. Cette méthode permet de faire des mesures non destructives. Il est possible de mesurer des échantillons et composants encapsulés grâce a ces courants faible qui pénètrent les couches non conductrices tel que les oxydes ou tout autres revêtements.
Le TF Portable 1010 est un appareil facile à utiliser et contrôlé via un écran tactile. Compact, il permet, selon sa configuration, d'extraire de manière précise la résistance de surface, la résistivité, l'épaisseur ou encore l'anisotropie d'un matériau


Avantages :

- Appareil de mesure compact et portable
- Mesure manuelle
- Mesure instantanée en direct
- Collecte de données numériques et transmission de données via Bluetooth
- Caractérisation des couches conductrices cachées et encapsulées

Application:

- Verre architectural (LowE)
- Revêtements miroir
- Couches réfléchissantes
- Feuilles d'emballage
- Couches d'électrodes en verre intelligent / électrochrome et stockage d'énergie
- Électrodes de batterie
- Papier conducteur et textiles conducteurs
- Polymère conducteur
Profilomètre de rugosité 3D

MW-TopMap-Micro.ViewProfilomètre de rugosité 3D

Le TopMap Micro.View® est un profilomètre optique compact et facile d'utilisation. Cet interféromètre à balayage de cohérence allie performances exceptionnelles et prix abordable.

Sa large plage de mesure Z de 100 mm, associée à la technologie de balayage continu (CST), permet de mesurer les microstructures et les textures de surfaces de précision avec une résolution subnanométrique. Son format compact, idéal pour une utilisation sur table, intègre une électronique performante et un système de mise au point avancé qui simplifie et accélère les mesures.

Bénéficiez de la technologie de compensation environnementale ECT (en option) pour des résultats de mesure fiables et précis, même dans des environnements de production bruyants et difficiles. L'ajout de l'objectif TopMap 0,6x vous permet d'étendre vos capacités pour des mesures de forme haute résolution. Le système de mise au point avancé simplifie et accélère les mesures.

Le Micro.View® est l'instrument de contrôle qualité économique idéal pour l'inspection des surfaces de précision, la mesure de la rugosité et la microtopographie dans les secteurs de la production et de la recherche.
Prism coupler

MW-Model2010-MPrism coupler

Le système Metricon Prism Coupler 2010/M utilise des techniques avancées de guidage d'ondes optiques pour mesurer rapidement et précisément l'épaisseur et l'indice de réfraction/biréfringence des films diélectriques et polymères ainsi que l'indice de réfraction des matériaux en vrac. Le 2010/M offre des avantages uniques par rapport aux réfractomètres et instruments conventionnels basés sur l'ellipsométrie ou la spectrophotométrie :

• Complètement général – aucune connaissance avancée des propriétés optiques du film/substrat requise
• Résolution d'index de routine de ± 0,0005 (précision jusqu'à ± 0,0001 disponible pour de nombreuses applications)
• Résolution d'index de routine de ± 0,0003 (résolution allant jusqu'à ± 0,00005 disponible pour de nombreuses applications)
• Mesure d'indice de haute précision des matériaux en vrac, des substrats ou des liquides, y compris la biréfringence/anisotropie
• Caractérisation rapide (20 secondes) de films minces, de guides d'ondes optiques diffusés ou de structures de capteurs SPR.
• Mesure simple de l'indice par rapport à la longueur d'onde
• Options permettant de mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT) et de la perte du guide d'ondes.
• Large plage de mesure d'indice (1,0-3,35)

Le modèle 2010/M représente une amélioration significative par rapport à son prédécesseur, le modèle 2010, offrant une compatibilité avec Windows XP/Vista/Seven, un programme de contrôle Windows grandement amélioré et convivial, et de nouvelles fonctionnalités de mesure telles que la possibilité de mesurer avec précision mesures d'épaisseur et d'indice de films très épais ainsi qu'une option pour mesurer l'indice en fonction de la température (dn/dT). Cela élimine également le besoin de la carte d'interface ISA désormais obsolète requise par le 2010.
Station de test compacte sous vide non magnétique

HCP421V-PMHStation de test compacte sous vide non magnétique

Mini Station de test pour des mesures en température, sous vide non magnétique.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Cette station amagnétique vous permettra de pouvoir effectuer des mesures avec des bobines de Helmholtz.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce
-Test sous champs magnétiques


Spécifications :

 • Station pour effectuer des mesures sous vides à l'intérieur d'un système de bobines de Helmholtz
• Dimensions de la station 180 mm x 130 mm x 26.5 mm
• Mesures sur échantillons unitaire, taille 38x42 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Chambre étanche au vide
Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

WL210LEStation de test sous pointes RF manuelle haute précision 8" avec chambre locale

Cette station de test sous pointes est dérivée de la gamme Checkmate. Elle est munie en complément d'une chambre locale permettant des mesures en températures (chaud/froid) ou permet d'effectuer des mesures très faible courant.

- Mesures fA (faibles courants)
- Isolation lumineuse
- Blindage électrique
- Configurations : 4 ports HF ou 8 ports DC/Kelvin ou combinaison HF/DC
- Existe en 300mm
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)
Station de test compacte sous vide

HCP421V-MPSStation de test compacte sous vide

Mini Station de test conçue spécifiquement pour effectuer des mesures en température et sous vide.
Cette station est entièrement hermétique, ce qui lui permet de fournir un environnement de mesure contrôlé et stable. Grâce à cette station, vous bénéficiez d'une large gamme de possibilités pour vos expérimentations.
Les pointes utilisées dans cette station sont en Rhénium de tungstène, ce qui les rend très résistantes et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

 • Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

Station de test compacte sous gaz

HCP621G-MPStation de test compacte sous gaz

Mini Station de test pour des mesures en température et sous atmosphère contrôlée.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Elle vous permettra de faire vos mesures en température tout en envoyant un gaz neutre.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications:

• Mesures sur échantillons unitaire
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 600°C
• Injection de gaz neutre (Argon, Azote)

Comparaison avec la version -PM:

Pour les applications plus délicates, le modèle -MP est doté de sondes coulissantes qui ne bougent pas pendant la dilatation thermique de l'échantillon et n'endommagent donc pas les électrodes de l'échantillon, contrairement au modèle -PM qui peut rayer les plots de contact. Le modèle -MP peut également être mis à niveau vers un modèle -MPS ultérieurement.
Station de test compacte sous gaz

HCP-600-G-PMStation de test compacte sous gaz

Mini Station de test pour des mesures en température et sous atmosphère contrôlée.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm. Elle vous permettra de faire vos mesures en température tout en envoyant un gaz neutre.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications:

• Mesures sur échantillons unitaire
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 600°C
• Injection de gaz neutre (Argon, Azote)
Chuck triaxial

TRXCHUCKChuck triaxial

Le chuck triaxial permet des mesures jusqu'au fA avec l'utilisation de micropositionneurs à bras triaxial et d'une boite noire isolant de la lumière et des perturbations magnétiques.

- Il est composé de trois parties dont une partie médiane polarisable
- Disponible en version 150-200-300mm
- Le chuck triaxial  existe également en version haute température associé à un chuck chauffant ou tri-temp
- Compatible avec la plupart de nos stations en remplacement du chuck standard pour des mesures de caractérisation très faible courant.
Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

CM170Station de test sous pointes manuelle haute stabilité

Issue de la combinaison de deux modèles, la station CM170 assure stabilité et précision pour un prix modéré.

- Large plateau permettant d'accueillir des têtes millimétriques
- Applications multiples (optique, carte à pointes, HF...)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM170 : mesures DC à 100 MHz
WL170 : mesures DC à 110 GHz
WL170-THz : mmW jusqu'à 1.1 THz (chuck surélevé)
Station de test compacte sous vide

HP1000V-PSStation de test compacte sous vide

Station de probing compacte pour mesures haute température sous vide.
Cette station complètement hermétique vous permettant de monter à 1000°C tout en mettant votre échantillon sous vide.
Les pointes en Rhenium de tungstène, très résistantes au haute température et fiables. Ces pointes peuvent être manipulées manuellement grâce à des micropositionneurs, ce qui facilite leur placement précis sur des plots dont la taille est supérieure ou égale à 10µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

 • Mesures sur échantillons unitaire, 50x 50mm
• Positionnement manuel avec 4 micropositionneurs (Jusqu'à 7 micropositionneurs)
• Gamme de température : Ambiant à 1000°C
• Chambre étanche
Porte-pointe haute tension

HVPPorte-pointe haute tension

Cette série de porte-pointes permet des mesures hautes tensions, jusqu'à 20KV.

Fixation de la pointe par mandrin ou par vis.
Idéal pour des mesures IV sur transistors HT ou diodes HT.
Testeur mécanique compact

MW-CB500Testeur mécanique compact

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes compactes CB500 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures également possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères
Testeur mécanique grande surface

MW-PB1000Testeur mécanique grande surface

Conçus avec des technologies avancées uniques, les systèmes PB1000 offrent la plus grande précision et répétabilité avec la plus large gamme de capacités de mesure sur de grande surface.

Dotés de plusieurs modes de tests, ils permettent un véritable contrôle de la charge et profondeur d'implantation donnant ainsi accès à différents paramètres internes du matériaux. Mesures égalemment possibles sous différentes contraintes environnementales (température, humidité, corrosion..)

Nano/micro Indentation:

- Module de dureté et d'élasticité (module d'Young)
- Résistance à la traction (Rm)
- Contrainte & déformation
- Limite d'élasticité et fatigue
- Fluage et relaxation
- Module de perte et de stockage

Scratch

- Rupture cohésive/adhésive
- Rayure
- Coefficient de frottement

Applications:

- Test de dureté à la rayure en température
- Nanoindentation métallique multiphase
- Cartographie par microindentations des céramiques
- Test de résistance à la compression
- Caractérisation des constantes de ressort
- Analyse viscoélastique des polymères
Station de test compacte sous vide

HCP-400-V-PMStation de test compacte sous vide

Mini Station de test pour des mesures en température et sous vide.
Cette station ultra-compacte complètement hermétique vous offre une large gamme de possibilités. Des pointes en Rhenium de tungstène manipulés manuellement et pouvant être placés sur des plots >= 100µm.

Applications :

- Test électrique : résistor, transistor, capacitor
- Electrodes, diodes
- Photovoltaïque
- Nanomatériaux
- Capteurs, MEMS, OLED, infrarouge...
- Wafer de silicium
- Micro puce

Spécifications :

• Mesures sur échantillons unitaire, taille 28x30 mm
• Positionnement manuel 4 pointes mobiles montées sur ressort.
• Gamme de température : -190°C à 400°C
• Capacité de vide jusqu'à 1 mTorr

Caméra numérique

MOTICAMS12Caméra numérique

Caméra adaptable sur tous les microscopes trinoculaires, fournie une aide au positionnement des pointes de tests.

- Logiciel de capture et de mesure fourni
- Capteur haute résolution
Insolateur UV manuel

UH104Insolateur UV manuel

Modèle de table à faible encombrement, le modèle UH104 offre une souplesse inégalée dans l'insolation des films UV utilisés dans la découpe des wafers ou le backgrinding. Ces systèmes d'illuminations UV permettant le durcissement rapide de tous types de matériaux photo-sensibles. Principalement utilisé dans le monde du semi-conducteur, ils permettent de solidifier la colle présente sur les films adhésif utilisé lors du process de découpe. Sans danger pour l'environnement ce processus de durcissement UV s'effectue à température ambiante et à une longueur d'onde de 365nm.

Spécifications techniques:

• Système compact 8" ou 12"
• Chargement manuel, process d'insolation UV automatique.
• Substrats rectangulaires jusqu'à 12"
• Lampe UV respectueuse de l'environnement et sans ozone
• Temps de durcissement rapide
• Contrôleur basé sur un microprocesseur facilement programmable
• Fonctionnement manuel répétable
• Rapport coût/performance exceptionnel
• Processus de durcissement UVA 365 nm à basse température
• Très économe en énergie
• Fenêtre en verre de quartz
• Port de mesure de l'intensité de la lampe

Options:

- Plateforme de travail motorisée et rotative
- Adaptateur de cadre de film 6" ou 8"
- Radiomètre d'intensité de lampe UV (nécessite un ensemble capteur/atténuateur, ci-dessous)
- Ensemble capteur/atténuateur (nécessite un radiomètre ci-dessus)
Chuck forte puissance

HPCHUCKChuck forte puissance

Le chuck forte puissance est prévu pour être utilisé lors de caratérisation sous pointes en haute tension ou fort courant.

- Disponible en version 150, 200 ou 300 mm
- Pour des mesures hautes tensions traversantes (10KV)
Sonde coaxiale faible courant

MW-SCA50Sonde coaxiale faible courant

Utile pour des mesures faible courant (inf. à 10fA@150°C), cette sonde coaxiale est construite avec des composants micro-ondes. Le faible bruit est obtenu par un dépassement minimal de la pointe (3 mm).

- La pointe (remplaçable) est disponible de 0.5 µm à 20 µm
- En option : Tresse de masse, Kelvin, résistance série/parallèle...
Porte-échantillon pour systèmes HMS

SPCBPorte-échantillon pour systèmes HMS

Optimisez vos campagnes de caractérisation grâce à nos porte-échantillons spécialement conçus pour les mesures d'effet-Hall.

Équipé de quatre contacts à ressort plaqués or (pogo-pins), il assure un contact fiable, reproductible et sans dommage avec les échantillons.
Grâce à la force de contact contrôlée des contacts à ressort, l'installation de l'échantillon est rapide et ne nécessite ni soudure ni fixation permanente. Cette conception garantit une excellente stabilité électrique tout en compensant les variations d'épaisseur et les tolérances dimensionnelles des matériaux testés.
Carte de burn-in

BIBCarte de burn-in

Microworld propose des réalisations sur mesure de cartes de burn in pour tous types de composants et fours de burn in.

 • Cartes de burn in pour chaleur sèche, multicouches, équipées avec les sockets de test ou nues, dessinées selon votre cahier des charges
• Cartes spéciales haute température, haute fréquence, avec circuiterie particulière...
• Cartes pour chaleur humide (85/85), pour autoclave (Hast test)
• Toute étude particulière de prototype incluant ou non la fourniture ou le design du socket adapté
Boite noire avec plateau

D3Boite noire avec plateau

Spécialement conçue pour la mesure en température, cette boite noire type ''valise'' est munie d'un chuck (ambiant ou chauffant) ainsi que d'un plateau rond permettant de positionner plusieurs micropositionneurs magnétiques.

- Un microscope peut-être utilisé pour des motifs plus petits
- Une solution particulièrement économique pour une variété d'applications de test 

Station de test sous pointes semi-automatique 6"

CM465Station de test sous pointes semi-automatique 6"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 150 mm (6'').

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Plateau X-Y piloté par moteur à induction linéaire et encodeur optique de grande précision
- Application sur cartes à pointes possible
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faibles courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
Station de test sous pointes semi-automatique 8"

CM250Station de test sous pointes semi-automatique 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
Station de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

WL250-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 8" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Porte-pointe Coaxial isolation téflon

UxTBPorte-pointe Coaxial isolation téflon

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation téflon.
Porte-pointe Coaxial isolation céramique

UxGBPorte-pointe Coaxial isolation céramique

Ce porte-pointe coaxial permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV faibles bruits grace à son isolation, et hautes températures jusqu'à 600°C.
Porte-pointe standard fixation pointe par vis

USPorte-pointe standard fixation pointe par vis

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par vis pour un encombrement réduit.
Pointe de test en palladium

PTSE-PPointe de test en palladium

Pointe de test droite en palladium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau palladium convient particulièrement pour des surfaces difficiles à contacter ou pour des mesures faibles courants
Socket de test pour boitier SOD

SODSocket de test pour boitier SOD

Sockets (Support) de test SOD.
Standard ou custom sur demande.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Wafer de calibration 3" certifié NIST

SRS3Wafer de calibration 3" certifié NIST

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 3" (75mm)
• Certification NIST valable 1 an
Substrat de calibration pour sonde RF

MW-CSSubstrat de calibration pour sonde RF

Série de substrats de calibration pour sondes RF, permettant une mesure très précise.

- Configurations GSG, GS, SG ou dual (GSSG, GSGSG...)
- Plots plaqués or
- Through, short, load (50ohms)...
- Kit de calibration pour analyseur (R&S, HP...)
Socket de test pour boitier DFN

DFNSocket de test pour boitier DFN

Supports de test pour tous boitiers DFN.
Série standard ou socket de test personnalisé selon vos besoins (boitier, spécifications).

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Porte-pointe standard fixation pointe par ressort

UPPorte-pointe standard fixation pointe par ressort

Ce porte-pointe permet de monter une pointe de test avec un angle de 45°.

Il est utile pour des mesures IV standard.
La fixation de la pointe se fait par ressort pour un montage rapide et sur.
Station de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

WL350-LEStation de test sous pointes semi-automatique HF 12" avec chambre locale

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Socket de test pour boitier DO

DOSocket de test pour boitier DO

Supports de test pour tous boitiers DO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs de serrage par vis, ClamShell, Open Top ...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Pointe de test en cuivre béryllium

PTSE-20BCPointe de test en cuivre béryllium

Pointe de test droite en cuivre béryllium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le cuivre béryllium convient particulièrement pour des matériaux soft type or ou cuivre, ou pour des mesures forts courants
Socket de tests pour boitier BGA

SOKBGASocket de tests pour boitier BGA

Supports de test pour tous boitiers BGA, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Option temperature, non-magnétique, haute fréquence...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre


Station de test sous pointes manuelle 8"

S1160B-8NStation de test sous pointes manuelle 8"

Station de test sous pointes pour analyses de précision telles que IV, CV, sur puces seules, sur wafers, sur composants...
Modulaire, la S1160 permet d'accueillir plusieurs options et accessoires pour une multitudes d'applications (température, mesures faibles courants...).

- Elévation rapide du plateau par bras manuel (contact / non contact)
- Accepte microscopes binoculaire et trinoculaire
- Wafers jusqu'à 8'' (Wafers 200mm)
- Réglage angulaire du Wafer
- Permet d'accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes
- Châssis massif pour une meilleure stabilité

REFERENCES COURANTES

S1160A-8N : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
S1160B-8N : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
S1160C-8N : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

WL250Station de test sous pointes semi-automatique HF 8"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique hautes fréquences d'un wafer complet jusqu'à 200 mm (8").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température entre -60°C et 300°C
- Mesures HF jusqu'à 110 GHz
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 4 ports HF (N, S, E, O) et 4 DC
- Chambre locale optionnelle pour blindage EMI et isolation lumineuse

RÉFÉRENCES COURANTES

WL250 : Version 200 mm
WL350 : Version 300 mm
WL250-LE : Version 200 mm avec chambre locale
WL350-LE : Version 300 mm avec chambre locale
Socket de test pour boitier SC

SCSocket de test pour boitier SC

Socket de test : SC
Développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

CM210Station de test sous pointes manuelle haute précision 8"

La série Checkmate représente les stations de tests sous pointes les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Test avec carte à pointes compatible
- Caractérisation en température optionelle (-60°C à 300°C)
- Mesures haute tension (HV) et faible courant (fA) possible
- Peut accueillir jusqu'à 8 micropositionneurs DC ou une carte à pointes

RÉFÉRENCES COURANTES

CM210 : Version 200 mm
CM310 : Version 300 mm
Micropositionneur S725 haute température

S725HTMicropositionneur S725 haute température

Ce micropositionneur permet de poser des pointes de test sur des plots et lignes de dimension > 20 µm.
Modèle spécialement conçu pour les mesures en température, jusqu'à 600°C.
Socket de test pour boitier FP

FPSocket de test pour boitier FP

Supports de test pour tous boitiers FP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier TO

TOSocket de test pour boitier TO

Supports de test pour tous boitiers TO, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, température
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SOT

SOTSocket de test pour boitier SOT

Supports de test pour tous boitiers SOT, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SSOP

SSOPSocket de test pour boitier SSOP

Supports de test pour tous boitiers SSOP, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Socket de test pour boitier SOIC

SOICSocket de test pour boitier SOIC

Support/Socket de test SOIC, large gamme standard ou personnalisés selon le boitier et vos spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Station de test sous pointes RF manuelle 8"

WL1160B-8NStation de test sous pointes RF manuelle 8"

Station de tests sous pointes économique pour applications RF et Micro-ondes, configurable et upgradable selon application.

- Mesures DC jusqu'à 110 GHz
- Base massive pour une meilleure stabilité
- Chuck anti-résonnant
- Chuck pour substrat de calibration indépendant en rotation
- Levée rapide et réglage fin du plateau
- Microscope binoculaire / trinoculaire (option de dégagement complet Tilt-back)
- Accepte jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

REFERENCES COURANTES

WL1160A : Mouvement du pont optique pour microscope à tourelle
WL1160B : Mouvement du pont optique pour microscope trinoculaire stéréozoom
WL1160C : Pont optique fixe pour microscope trinoculaire stéréozoom
Micropositionneur pour multiplicateur de fréquence

SLAP90-EMicropositionneur pour multiplicateur de fréquence

Ce micropositionneur spécifique aux mesures sous pointe RF très haute fréquence à tête milimétrique permet d'accueillir les multiplicateurs de fréquences.

- Configuration Est, Ouest
- Vissé sur la platine de la station de test sous pointe pour une meilleure stabilité
- Réglage angulaire pour garantir le contact des têtes milimétriques (configurations GS, GSG, ...)
- S'adapte aux différents modèles de multiplicateur de fréquence (Rohde & Schwarz, Keysight, VDI ...)
Socket de test pour boitier DDPAK

DDPAKSocket de test pour boitier DDPAK

Socket de test DDPAK, pour boitier DDPAK.
Développements personnalisés sur demande selon vos besoins et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Wafer de calibration 8"

SRS8Wafer de calibration 8"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 8" (200mm)
• Certification NIST valable 1 an
Socket de test pour boitier SMD

SMDSocket de test pour boitier SMD

Supports de test pour tous boitiers SMD, développements existant ou personnalisés selon boitier et spécifications de test.

• Espacement entre plots (pitch) à partir de 0,22 mm, temperature
• Dessinés pour accommoder les variations d'épaisseur de boitier dans une large mesure
• Plus de 1300 Designs ClamShell, Open Top, serrage par vis...
• Nous envoyer les détails de votre composant (schéma dimensionnel) pour vérifier la disponibilité et obtenir une offre
Chuck thermique

ERS-AC3Chuck thermique

Depuis 50 ans ERS développe des chucks thermiques compatible avec toutes les stations de test sous pointe.

Ils possèdent les propriétés suivantes :
- Haute température : 300°C
- Basse température : une technologie brevetée à flux d'air permet le refroidissement jusqu'à -65°C
- Chuck TRIAX pour mesure faible courant (FemtoAmp)
- Chuck Haute tension
- Chuck non magnétique
Station de test sous pointes semi-automatique 12"

CM350Station de test sous pointes semi-automatique 12"

Station de test sous pointes semi-automatique permettant la caractérisation électrique d'un wafer complet jusqu'à 300 mm (12").

- Logiciel de mapping, auto-alignement, reconnaissance de pattern, autofocus...
- Application sur cartes à pointes possible
- Caractérisation en température jusqu'à 600°C
- Mesures hautes tensions (HV - 10kV) et faible courants (fA)
- Système développé pour la validation design (R&D) et rendement de production
- Configurations : jusqu'à 10 ports DC/Kelvin
- Adaptation possible d'un chuck hautes performances ERS (refroidissement à air, température de -60°C à 300°C)

RÉFÉRENCES COURANTES

CM250 : Version 200 mm
CM350 : Version 300 mm
Tribomètre modulaire

MW-T50Tribomètre modulaire

Le tribomètre modulaire standard T50 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Alors que les technologies pneumatiques avancées (disponibles sur T100 & T2000) associées à une automatisation complète repoussent les frontières de la tribologie, les technologies traditionnelles peuvent répondre à un large éventail d'applications.
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Charges appliquée jusqu'à 60N
- Stabilité maximale avec une base en tôle d'acier solide de 20 mm d'épaisseur
- Roulements de haute qualité pour une rotation et une longévité en douceur
- Meilleure précision de mesure du frottement avec cellule de charge directe

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Tribomètre compact

MW-T100Tribomètre compact

Le tribomètre pneumatique compact T100 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Chargement vertical parfait sans aucun point de pivot
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Tribomètre forte charge

MW-T2000Tribomètre forte charge

Le tribomètre pneumatique à forte charge T2000 offre des solutions d'essai conformes aux normes industrielles. Associé à une automatisation complète, il repousse les frontières de la tribologie
Disponible avec plusieurs modules de test: Rotation / Linéaire / Block on Ring / Ring on Ring / Scratch / Four Ball
Possibles sous différentes contraintes environnementales : Corrosion / Température / Humidité / Gaz / Immergé

Avantages:

- Technologie de chargement pneumatique avancée
- Charge supplémentaire pour des simulations réelles de fatigue et d'oscillation
- Mesure directe du frottement à partir d'un capteur de cellule de charge indépendant
- Profilage 3D Full Track intégré

Applications:

- Test d'usure des revêtements industriels
- Test frottement polymères
- Propriété tribologique de la fibre de carbonne
- Comparaison d'usure par abrasion
- Evaluation plaquette de frein
Wafer de calibration 12"

SRS12Wafer de calibration 12"

Ce wafer permet de calibrer les systèmes de mesures de résistivité 4 pointes. Il possède la certification NIST.

Spécifications :

 • Wafer 12" (300mm)
• Certification NIST valable 1 an
Caméra numérique

MOTICAM1080NCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB
Caméra numérique haute définition

MOTICAM4000Caméra numérique haute définition

Caméra numérique haute définition d'inspection et d'aide à la pose de pointes sur wafer.

Cette caméra utilise un montage C pour être montée sur la plupart des microscopes du marché.
Sa haute définition lui offre la possibilité de poser les pointes sur des plots très petits.
Elle possède plusieurs sorties pour permettre une grande variété d'utilisations (HDMI 4K, USB...).
Une carte SD peut-être connectée pour réaliser des prises d'images rapides.
Caméra numérique

MOTICAM1080XCaméra numérique

Cette caméra est très utile pour une vison en direct pour faciliter la pose de pointes.

- Compatible avec nos microscopes trinoculaires
- Montage C
- Multi-sorties pour vision directe sur moniteur (HMDI) et USB
Adaptateur de carte à pointes

S47Adaptateur de carte à pointes

Ce support mécanique permet de fixer une carte à pointes rectangulaire de 4,5" (114 mm) de large sur une station de tests sous pointes.

- Permet d'alimenter le dispositif par plusieurs pointes tout en effectuant des poses de pointes ciblées sur le milieu de la puce ou sur des plots internes de tests.
- Ce support existe en deux modèles dont l'un avec réglage de rotation.
Pointe fort courant

MWPHCPointe fort courant

La pointe HCP (High Current Probe) est conçue d'après un design innovateur et unique, Le courant est distribué sur les contacts et un radiateur inclus dissipe la chaleur au niveau du plot. L'utilisateur dispose ainsi d'une connexion Kelvin au niveau du plot de contact pour un investissement minimal.

- Specs PowerPro 3kV triax / 10kV coax, 450A pulsed / 10A DC
- Pointes en Tungstène, corps en céramique pour utilisation haute température
- Montage sur micropositionneur RF
- Modèle MWPHC-100, MWPHC-450
- Accessoire indispensable à l'option forte puissance PowerPro
Carte à pointes

ProbecardCarte à pointes

Les cartes à pointes permettent de répondre à toutes les applications de test de production et notamment là où les contraintes techniques sont importantes : grande densité de pointes, faible espacement (pitch), test parallèle (multi-DUT), contrainte technologique (low-k, plot sur cicuit actif...).

- Service de design pcb disponible permettant de réaliser des cartes spécifiques
- Tous services de fabrication, diagnostic, réparation, alignement...
- Adaptable pour tests sur plots ou sur bumps
Carte à pointes haute puissance

HP-probecardCarte à pointes haute puissance

Nous proposons des cartes à pointes spécifiques pour les applications hautes puissances.
De l'air sous haute pression est injecté dans la chambre de la carte à pointes pour éviter les arcs électriques.

- Haute tension jusqu'à 10KV
- Fort courant jusqu'à 100A
Station de test sous pointes manuelle 4"

H150Station de test sous pointes manuelle 4"

Station de tests sous pointes facile à utiliser pour wafers jusqu'à 100mm.

- Déplacement du chuck XY
- Système de levée rapide du plateau
- Accepte jusqu'à 6 micropositionneurs ou carte à pointes
- Support microscope fixe
Pointe de test en osmium

PTSE-OPointe de test en osmium

Pointe de test droite en osmium, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau osmium convient particulièrement pour des surfaces fragiles
Pointe de test en tungstène plaquée or

PTSE-TGPointe de test en tungstène plaquée or

Pointe de test droite en tungstène plaquée or, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau tungstène doré convient particulièrement pour des surfaces fragiles


Pointe de test en carbure de tungstène

PTSE-TCPointe de test en carbure de tungstène

Pointe de test droite en carbure de tungstène, le corps rigide peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au-dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Usage pour test sous pointes standard sur plots et/ou sur lignes internes
- Le matériau carbure de tungstène convient particulièrement pour des surfaces dures
Porte-pointe Triaxial

TRXPorte-pointe Triaxial

Porte-pointe à très faible niveau de bruit (± 2 fA lorsque utilisé avec un chuck triaxial et en environnement clos).

Se monte sur les micropositionneurs S725P, S926P, SP100P, SP150P.
Pointe de test en cuivre avec fil tungstène

PTG4Pointe de test en cuivre avec fil tungstène

Pointe de test droite composée d'un corps en tungstène sur lequel est rapporté par soudure un fil  de diamètre plus fin, la tige flexible minimise les dommages sur le matériau de contact et supporte mieux les vibrations ambiantes.

- Longueur de la tige flexible 3 à 5 mm, diamètre 5 à 125 microns
- Finesse de bout de du fil tungstène de 0.1 à 5 microns
- Usage pour tests sur plots et/ou sur lignes internes
- Le corps rigide en tungstène peut être plié suivant différentes formes et/ou coupé pour dégager l'espace dans le cas d'objectif à très courte distance de travail
Pointe de test en tungstène

PTG20Pointe de test en tungstène

Pointe de test droite avec finesse (tip radius) de 0,5 à 100 µm, le corps rigide en tungstène peut être plié et/ou coupé pour dégager l'espace au dessus dans le cas d'objectif à très courte distance de travail.

- Matériau tungstène, longueur totale 38 mm
- Usage pour tests sous pointes standard sur plots et/ou sur motifs
- Le corps peut être plaquée nickel pour soudure aisée, ajouter suffixe "N" au P/N
Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

WL210Station de test sous pointes RF manuelle haute précision 8"

La série WaveLink représente les stations de tests sous pointes HF les plus abouties, disponible jusqu'au wafer 300 mm.

- Non résonance de l'ensemble jusqu'à 500 GHz
- Toutes les stations sont "upgradables" d'une version à l'autre
- Version manuelle ou semi-automatique
- Caractérisation en température optionnelle (-60°C à 300°C)
- Peut accueillir jusqu'à 4 micropositionneurs RF et 4 micropositionneurs DC simultanément

RÉFÉRENCES COURANTES

WL210 : Version 200 mm
WL310 : Version 300 mm
Station de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

WL170-THzStation de test sous pointes Millimétrique manuelle haute stabilité

Station spécialement conçue pour les applications ultra hautes fréquences, avec l'utilisation de têtes millimétriques (extenders).
Ce système permet de monter un micropositionneur avec un large plateau pouvant supporter les extenders des principaux fabricants (R&S, VDI...).

- Jusqu'à 1,1 Thz
- Chuck réhaussé
- Blocage en rotation
- Microscope à longue distance de travail
Sonde coaxiale Kelvin

MW-SCA250Sonde coaxiale Kelvin

Destinée à la mesure faible signaux, ces sondes coaxiales et Kelvin disposent de deux pointes indépendantes lorsque l'application nécessite de poser 2 pointes sur un même plot.

- Fil de 50 ohms semi-rigide de 200 µm isolé par un diélectrique Téflon, le faible bruit est obtenu par un dépassement minimal de la pointe (3 mm)
- Double-pointe disponible de 5 µm à 12,5 µm avec espacement de 12,5 à 100 µm
Sonde active 35

MWPA-35Sonde active 35

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 26 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS3
- La pointe (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R35. Attention, cette sonde est livrée sans sa pointe de remplacement.
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 18C, 19C, 28, 29, 34A
Sonde active 12C

MWPA-12CSonde active 12C

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée

- Gamme de fréquence DC jusqu'à 500 MHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Une pointe de remplacement est fournie avec la sonde, voir également la série de pointes remplaçables MWPA-R12C
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 18C, 19C, 28, 29, 34A, 35
Micropositionneur RF & Microwave

SM40Micropositionneur RF & Microwave

Ce micropositionneur est spécifiquement conçu pour recevoir des pointes multicontact de configuration coplanaire, il dispose de déplacements de 25mm sur chaque axe et d'un système de prévention de mouvement intempestif de la pointe (cross roller bearing).

- Ultra-stable avec fixation par vis sur le plateau (option base magnétique).
- Molette de réglage de coplanarité pour les pointes multicontact (GS, GSG, GSGSG, ...).
- Disponible avec différentes orientations pour montage de la tête RF (Nord, Sud, Est, Ouest).
Sonde passive multi-applications

MWPA-10Sonde passive multi-applications

Sonde passive multi-applications ultra-rapide, utilisation en stimuli et réception de signal, réponse en fréquence DC à 11 GHz (selon impédance d'entrée).

- Adaptable sur tous micropositionneurs, à spécifier
- Câble coaxial 50 ohms inclus (longueur 1 m), terminaison SMA et connecteur miniature pour les pointes
- Pointes coaxiales remplaçables de longueur 38mm (à 1 ou 2 points de contact selon configuration)
- Choix d'impédance d'entrée 50, 250, 500 ou 5k ohm par résistance incorporée au niveau des pointes
Sonde active 34A

MWPA-34ASonde active 34A

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 3 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe fournie (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R34A
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 18C, 19C, 28, 29, 35
Sonde active 28

MWPA-28Sonde active 28

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 1 GHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (modèle à spécifier lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe fournie (remplaçable) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R28
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 112C, 18C, 19C, 29, 34A, 35
Sonde active 18C

MWPA-18CSonde active 18C

Sonde destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles nécessitant une faible capacité d'entrée.

- Gamme de fréquences DC jusqu'à 350MHz
- Bras actif spécifique au micropositionneur utilisé (à préciser lors de la commande)
- Nécessite une alimentation pour fonctionner, valable pour une ou deux sondes, modèle MW-PS2
- La pointe (remplaçable et fournie) est équipée d'un MOS en entrée, divers modèles de finesse et de radius sont disponibles
- Voir la série de pointes remplaçables MWPA-R18C
- Autres modèles disponibles : 7, 7A, 12C, 19, 28, 29, 34A et 35
Micropositionneur RF & Microwave

SM90Micropositionneur RF & Microwave

Ce micropositionneur est spécifiquement conçu pour recevoir des pointes multicontact de configuration coplanaire, il dispose de déplacements de 25mm sur chaque axe et d'un système de prévention de mouvement intempestif de la pointe (cross roller bearing).

- Ultra-stable avec fixation par vis sur le plateau (option base magnétique).
- Molette de réglage de co-planarité pour les pointes multixontact (GS, GSG, GSGSG, ...).
- Disponible avec différentes orientations pour montage de la tête RF (Nord, Sud, Est, Ouest).
Boite noire personnalisée

MW-DBBoite noire personnalisée

Pour les systèmes de test sous pointes non équipés de chambre locale, Microworld offre des boites noires permettant d'isoler les stations de tests sous pointes ou tout autre système.

- Isolation électrique et lumineuse
- Sécurité utilisateur pour utilisation en haute tension
- Panneaux de connecteurs traversants
- Passage de câble col de cygne
- Taille et design sur demande
Micropositionneur submicronique ultra-stable SP150

SP150Micropositionneur submicronique ultra-stable SP150

Micropositionneur de haute précision et ultra-stable avec molettes de mouvements en ligne, permet de poser des pointes sur des plots ou sur des lignes avec une précision submicronique.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Choix de tête Pivotante P ou Standard (descente avec molette Z).
- Le SP150 représente le micropositionneur le plus abouti actuellement disponible pour des positionnements de très grande précision.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.
Sonde active 7

MWPA-7Sonde active 7

Cette série de sondes est destinée au test sous pointes de noeuds internes sensibles en complément aux modèles 12C et 18C pour stimuler les circuits et mesurer les réponses des noeuds adjacents

- Le câble flexible coaxial de 1,8m terminé par une impédance de 50 ohms élimine les réflexions
- Le connecteur miniature reçoit la pointe (remplaçable) avec une isolation coaxiale jusqu'à 3 mm du bout afin d'éviter les capacités parasites
- Diverses références de finesse et de forme sont disponibles
- Modèles disponibles : 7, 7A, adaptable sur tout micropositionneur (modèle à préciser)
- Pour des applications en température (jusqu'à 200°C), les modèles MWPA-7-HT et MWPA-7A-HT sont disponibles
Micropositionneur haute précision SP100

SP100Micropositionneur haute précision SP100

Ce micropositionneur de haute précision avec ses molettes en ligne permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.

- Descente de la pointe totalement verticale.
- Option tête pivotante (plongée rapide pour pré-positionnement Z puis mouvement fin) ou Standard avec molette Z.
- Les molettes de réglage en ligne avec vis micrométriques (100TPI) permettent une densité optimale sur le plateau.
Micropositionneur de précision S926 avec tête pivotante

S926PMicropositionneur de précision S926 avec tête pivotante

Ce micropostionneur permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.
Sa tête pivotante est idéale pour les stations de test sous pointe avec une descente rapide en Z et positionnement fin.
Support de carte PCB

CM-BMCSupport de carte PCB

Ce support de cartes PCB permet de fixer des cartes électroniques munies de composants sur une station de test sous pointes.

- Utile pour l'analyse de défaillances sur composants montés sur carte ou nécessitant une circuiterie spécifique
Micropositionneur joystick économique

S750Micropositionneur joystick économique

Micropositionneur économique pour circuits hybrides et plots de contact assez grands (supérieurs à 500 µm).

- Un mouvement large X-Y est couplée à un mouvement ajustable Z.
- Sa base est magnétique et les dimensions particulièrement restreintes.
- Il accepte les porte-pointes modèles standard U.
- Rallonge joystick optionnelle pour plus de précision.
Micropositionneur S725 avec tête pivotante

S725PMicropositionneur S725 avec tête pivotante

Ce micropositionneur permet de positionner des pointe à des plots et lignes de dimension > 20 µm.
La tête pivotante est conçue pour une plongée rapide en Z avant positionnement fin.
Micropositionneur S725 avec tête à ressort

S725SMicropositionneur S725 avec tête à ressort

Ce modèle de micropositionneur permet d'accéder à des plots et des lignes de dimensions >20 µm.
La tête à ressort permet de limiter la pression de la pointe sur le plot (pour surface fragile ou applications en température).
Accessoires pour machine d'impression

3Dn-accessoriesAccessoires pour machine d'impression

Nous proposons quatre outils avancées conçues pour être compatibles avec n'importe quel système de la série 3Dn ou 3DX. Ces outils incluent SmartPump, nFD, nMill et nPnP360. ils offrent une polyvalence et étendent les capacités du processus d'impression, permettant une fabrication multi-processus et l'intégration de fonctionnalités supplémentaires.

L'outils d'impression 3D nFD, la tête d'extrusion de matériau chauffée (FDM ou FFF) et la pointe du stylet nTip à changement rapide sont des outils essentiels pour l'impression 3D sur les plates-formes de fabrication 3D. Utilisez le nTip standard pour les filaments de 1,75 mm et les filaments non standard. Retirez et nettoyez facilement ou changez les buses si besoin. nFD combiné à ses support de mouvement de précision produit les pièces extrudées les plus lisses et les plus reproductibles du marché, sans processus de lissage post-construction. Utilisez le plus petit nTip disponible dans le commerce (25 μm) pour des caractéristiques extrêmement fines. Ajoutez la fonction de suivi Z pour construire de manière conforme sur des structures de n'importe quelle forme.

Le nMill est une broche à grande vitesse conçue pour le fraisage, le perçage et le polissage de micro-précision. nMill est l'outil parfait pour le post-traitement de pratiquement n'importe quel matériau micro-déposé ou extrudé. Moteur et broche à 50 000 tr/min avec un fuseau total inférieur à 1 um. Équipé d'une fraise en bout exclusivement conçue pour le traitement du plastique, de micro-perceuses pour des vias de haute précision et d'une meule de polissage pour une finition lisse. Le système de collecte de poussière intégré protège à la fois la pièce et les débris de la machine. La buse de refroidissement par air empêche les thermoplastiques de fondre et réduit le temps de traitement. Le collet 1/8" accepte une large gamme d'embouts.

Le nPnP360 est une tête d'outil pick and place. Il applique une légère pression sur le composant pour le prélèvement et le placement, 20" Hg à 80 psi et 360 degrés de rotation, permettant à l'utilisateur d'orienter la pièce avec une grande précision. Le nPnP360 utilise des aiguilles "Luer Lock" interchangeables, ce qui permet de prélever et de placer des composants de différentes tailles. Le nPnP360 peut s'enfoncer de 3 mm après le contact initial, ce qui crée une bonne étanchéité pour le crochetage et un bon contact entre les composants et les pastilles lors du placement d'un composant.

Le SmartPump est la base de la micro-déposition d'encre sur les équipements des séries 3Dn et 3DX. La soupape brevetée et l'embout nTip de cette pompe à pression positive à commande numérique (aussi petit que 25 μm) permettent des démarrages et des arrêts presque parfaits (pas de bavure) de matériaux avec des viscosités extrêmes, allant des encres à nanoparticules 1cP à plus de 1 million de pâtes chargées en flocons cP. La SmartPump peut déposer plus de 10 000 matériaux disponibles dans le commerce avec un contrôle de volume jusqu'à 100 picolitres. Cet outil robuste a démontré des lignes imprimées aussi petites que 20 μm de large et des points aussi petits que 50 μm (selon le matériau). Une version chauffante est disponible.
Micropositionneur de précision S926 avec tête à ressort

S926SMicropositionneur de précision S926 avec tête à ressort

Ce micropostionneur permet de poser des pointes de tests sur des plots ou sur des lignes avec une précision de l'ordre du micromètre.
Sa tête à ressort est idéale pour les applications en température ou sur les surfaces fragiles.
Microscope stéréozoom

SMZ171Microscope stéréozoom

Microscope stéréozoom à grossissement modéré pour faciliter le positionnement des pointes de tests.

- Très grande distance de travail (WD = 110mm)
- Montage C pour caméra numérique (version trinoculaire)
- Large gamme d'objectifs et d'oculaires pour tout grossissement
- Eclairage à LED ou fibre optique disponible
Microscope mono-objectif

MS12ZMicroscope mono-objectif

Ce microscope est composé d'un mono-objectif avec un zoom interne inclus.
Il permet un grande plage de grossissement sans l'inconvénient de la tourelle pour des applications de tests sous pointes.

- Compact et léger
- Grande distance de travail (idéal pour applications hautes fréquences)
- Montage C pour caméra
- Grande luminosité (éclairage par fibre optique LED)
Table antivibratoire sur coussin d'air

TA-VIS-7575Table antivibratoire sur coussin d'air

Table montée sur coussins d'air permettant un amortissement des vibrations du sol pour de l'analyse sous pointes de grande précision ou de l'inspection optique.

- Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipement
- Rattrapage automatique du niveau horizontal
Table antivibratoire sur coussin d'air

TA-VIS-9090Table antivibratoire sur coussin d'air

Table montée sur coussins d'air permettant un amortissement des vibrations du sol pour de l'analyse sous pointes de grande précision ou de l'inspection optique.

- Plateau de plusieurs dimensions selon poids et taille de l'équipement
- Rattrapage automatique du niveau horizontal
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